安捷伦推出67-GHz PNA-X非线性矢量网络分析仪

　　安捷伦科技公司(NYSE：A)日前宣布推出 67 GHz PNA-X 非线性矢量网络分析仪，进一步扩展了其屡获殊荣的 PNA-X 系列。全新的 67-GHz 相位参考校准标准件也已上市，可配置为与 67-GHz PNA-X NVNA 结合使用。

　　借助这个硬件，设计人员不仅能够在高达 67 GHz 的频率上轻松、精确地完成元器件表征和建模，还能够测量 X 参数，从而在极高频率和宽带宽范围内对线性和非线性元器件特性进行精确建模。

　　在 10 月 11 日至 13 日于英国曼彻斯特市曼彻斯特中心举行的欧洲微波周(G301 展位)上，安捷伦将展示全新 67-GHz PNA-X NVNA、相位参考校准标准件及其它无线通信产品与服务。

　　Agilent NVNA 及先进设计系统软件是业界首个设计非线性元器件的测量和仿真环境，能够对非线性器件的特性进行最深入的分析，因而对于研究最新射频威廉希尔官方网站 的科学家和设计当今高性能有源器件的工程师尤其有用。用户使用 NVNA 可以测量 X 参数。X 参数是确定性高频率设计非线性网络参数的一个新类别，可用于表征元器件的线性和非线性特性。

　　全新 67-GHz NVNA 可使工程师在极宽的频率带宽内进行高频非线性测量。业界首款 67-GHz 相位参考校准标准件与 NVNA 结合使用，能够在高达 67 GHz 的频率范围内进行精确的非线性测量,测量结果可溯源到美国国家标准与威廉希尔官方网站 研究院(NIST)的标准。相位参考校准件使用一定频率范围内已知的可溯源到 NIST的相位关系生成 10 MHz ～ 67 GHz 的梳状波信号，对 NVNA 进行校准，NVNA 因此可以在高达 67 GHz 的频率范围内测量器件的非线性特性。

　　这一功能可实现在高达 67 GHz 的频率范围内精确测量和预测谐波与失真，从而帮助用户对有源元器件(例如发射和接收模块)进行表征和 X 参数建模。T/R 模块通常是在 20-GHz 基频范围内工作，包含功率放大器、低噪声放大器和混频器。

　　在表征模块的非线性特性时，需要在三次谐波(60 GHz)上进行测量，一般通过变频器将 65-GHz 信号下变频为 500 MHz 中频信号。通过使用 67-GHz NVNA，工程师能够对下变频信号的幅度、交叉频率相位关系以及在宽频率范围内产生的失真进行精确表征。他们还可使用 X 参数在安捷伦先进设计系统(提供完整的系统设计能力)中对高频上(下)变频器和低噪声放大器进行测量和建模。

　　安捷伦副总裁兼元器件测试事业部总经理 Gregg Peters 表示：“在设计用于航空航天与国防应用的线性系统解决方案时，精确测量和降低高频元器件的非线性特性尤为重要。安捷伦 67-GHz 相位参考校准标准件与 NVNA 提供元器件表征能力和 X 参数，能够快速轻松、极其精确地对非线性特性进行测量和建模。NVNA 具有全面的匹配校正、精确的测量幅度以及与交叉频率相关的相位信息，从而为非线性元器件特性的精确测量和深入分析确立了新的标准。”