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数字集成电路设计系列8-Design For Test
5.0 共4个课时·
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Memory BIST专栏课程
DFT可测试性设计介绍
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Scan and ATPG
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Memory BIST
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5.0时长 00:49:32· 364人已学习
讲师:William 资深IC验证工程师
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