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The HFA5250 is the ideal monolithic pin driver solution for high
performance test systems. The device will switch at high data
rates between two input voltage levels providing variable amplitude
pulses. The output impedance is trimmed to achieve a precision
50Ω source for impedance matching. Two differential
ECL/TTL compatible inputs control the operation of the
HFA5250, one controlling the VHIGH/VLOW switching and the
other controlling the output’s high-impedance state. The
HFA5250’s 500MHz data rate makes it compatible with today’s
high speed VLSI test systems and the +7V to -2V output swing
allows testing of all common logic families.
The HFA5250 is manufactured in the Intersil proprietary complementary
bipolar process.
performance test systems. The device will switch at high data
rates between two input voltage levels providing variable amplitude
pulses. The output impedance is trimmed to achieve a precision
50Ω source for impedance matching. Two differential
ECL/TTL compatible inputs control the operation of the
HFA5250, one controlling the VHIGH/VLOW switching and the
other controlling the output’s high-impedance state. The
HFA5250’s 500MHz data rate makes it compatible with today’s
high speed VLSI test systems and the +7V to -2V output swing
allows testing of all common logic families.
The HFA5250 is manufactured in the Intersil proprietary complementary
bipolar process.
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