SCAN926260

厂商：
TI
封装：
描述：
SCAN926260 Six 1-10 Bus LVDS Deserializers w/IEEE 1149.1 & At-Speed BIST datasheet (Rev. H)

数据手册：

SCAN926260 数据手册

SCAN926260

物料型号：SCAN926260 器件简介：SCAN926260是一款集成了六个10位串行解串器的芯片，能同时将六个通过德州仪器（TI）10位LVDS串行器串行化的数据流进行解串行化。

它符合IEEE 1149.1标准，具备At-Speed BIST功能。

引脚分配：该芯片采用196引脚NFBGA封装，每个解串器模块都有自己的电源关闭引脚（PWRDWN[n]）和时钟恢复电路，还提供了一个主电源关闭引脚（MS_PWRDWN）将整个设备置于睡眠模式。

参数特性：支持16-66MHz的并行时钟速率，具有电源电压范围为3.0V至3.6V，工作温度范围为-40°C至85°C。

功能详解：芯片的每个解串器模块都能独立操作，拥有独立的时钟恢复电路和锁定检测信号。

在正常操作中，SCAN926260还能利用IEEE 1149.1测试模式（JTAG）或内置自测试模式（BIST）。

应用信息：适用于高速数据传输，尤其是在需要符合IEEE 1149.1标准的工业和通信领域。

封装信息：196-Pin NFBGA封装（低轮廓球栅阵列）。

封装的热阻为34°C/W，存储温度范围为-65°C至+150°C，结温为+125°C。

以上信息摘自产品数据手册，具体细节和应用指南请参考手册全文。

SCAN926260 价格&库存

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