一 产品简介
DI-1nS-FRD 系列二极管反向恢复时间测试仪，是本公司第四代产品。第四代的 FPGA芯片、阈值比较器等核心芯片采用恒温控制，使得测试精度和测试稳定性大大提高。本系列测试仪采用触摸液晶屏，可进行器件筛选的最大恢复时间设置、最小恢复时间设置、上升下降触发设置，同时显示二极管的恢复时间，PASS 指示灯直接提示测试的二极管是否合格。该系列测试仪广泛应用于二极管测试系统、工业生产系统以及电子应用实验室等领域。DI-1nS-FRD 为快恢复二极管反向恢复时间测试仪，擅长测试反向恢复时间小于 1000nS的快恢复二极管和肖特基二极管，精度 0.1nS。DI-1nS-FRD 除了可以进行传统的连续恒流脉冲测试外，还可以脉冲恒流测试，具有二极管 PN结不升温，测试数值稳定不变的特性。
二 应用范围
小功率快恢复二极管
肖特基二极管
三 指标
