半导体材料HAST高压加速老化试验箱性能:
1、温度范围:100℃~135℃可任意设定、
2、湿度范围:100%RH、(饱和蒸气湿度)
3、压力范围:0、0Kg/cm2~3、00Kg/cm2 Jue对压力;(安全压力容量3Kg/cm2/G=1
个环境大气压+2Kg/cm2)
4、时间范围:0~1000H
5、温度分布:(+/-)2、0℃%（100℃）
6、升温时间:RT~121℃约35分钟内
7、加压时间:0、0Kg/cm2~1、00Kg/cm2约35分钟内
8、循环方式:水蒸气自然对流循环方式
9、温度感应器:（RTD）PT-100Ω(铂金电阻)
10、加温电热器:绝缘耐压型温度电热器
11、内箱尺寸:300×450mm(φ×D)圆形试验箱
12、外箱尺寸:660×600×600mm(W×H×D)
13、内箱材质:SUS304#不锈钢板材质；外箱为烤漆、
半导体材料HAST高压加速老化试验箱的主要特点:
1．造型分为台式和立式两种,当然这是有具体的使用性能差别的,这样的两种PCT高压老化试验箱造型非常的好看,基本上都是采用了圆弧造型。
2．遇到这样的机械,人体不会造成多大的损害,可以说这是非常人性化的一点。
3．观察窗的设计,因为在试验的过程中需要时刻注意箱体的情况,所以观察窗是不是设置得好对于一次实验非常的重要,试验箱的观察窗视野非常的大,所以基本能够满足实验需要。
4．箱体的控制系统需要很完善,当然只有完善的控制系统才能够得到准确的实验数据,当然这些对于实验是非常重要的。
半导体材料HAST高压加速老化试验箱用途:
半导体材料HAST高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,PCT高压加速寿命试验机使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节,测试其制品的耐厌性、气密性。
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