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SCAN926260 具有 IEEE 1149.1 和全速度 BIST 的六个 1 至 10 总线 LVDS 解串器

数据:

描述

SCAN926260将6个10位解串器器件集成到一个芯片中。 SCAN926260可以同时对最多6个由TI 10位总线LVDS串行器进行串行化的数据流进行反序列化。此外,SCAN926260符合IEEE标准1149.1,还具有At-Speed内置自测(BIST)。有关详细信息,请参阅标题为IEEE 1149.1测试模式和BIST单独测试模式的部分。

SCAN926260中的每个解串器模块都有自己的断电引脚( PWRDWN [n] )并通过自己的时钟恢复电路和锁定检测信号独立运行。此外,还提供了一个主电源关断引脚( MS_PWRDWN ),可将整个器件置于休眠模式。

SCAN926260使用单个器件+ 3.3V电源,3.3V时消耗1.2W,所有通道上的PRBS-15模式为660Mbps。

特性

  • 使用嵌入式时钟对一到六个总线LVDS输入串行数据流进行反序列化
  • 符合IEEE 1149.1(JTAG)标准,并且 - 速度BIST测试模式
  • 并行时钟速率16-66MHz
  • PLL的片上滤波
  • 断电时的高阻抗输入(V cc = 0V)
  • + 3.3V
  • 196引脚NFBGA封装(薄型球栅阵列)封装的单电源
  • 工业温度范围操作:-40°C至+ 85°C
  • ROUTn [0:9]并且当通道未锁定时RCLKn默认为高电平
  • 每通道断电以节省未使用通道的电源< /li>

所有商标均为其各自所有者的财产。

参数 与其它产品相比 其他接口

 
Operating Temperature Range (C)
Package Group
Package Size: mm2:W x L (PKG)
Pin/Package
SCAN926260
-40 to 85    
NFBGA    
196NFBGA: 225 mm2: 15 x 15(NFBGA)    
196NFBGA    

方框图 (2)

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