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中科院半导体所

文章:1012 被阅读:281.6w 粉丝数:194 关注数:0 点赞数:31

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激光束能投射阴影,科学家颠覆传统认知

‍‍‍ 光及其与物质的各种相互作用的研究,几个世纪以来一直是科学探究的基石。从早期对反射和折射现象的....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-28 09:09 156次阅读

第三代半导体氮化镓(GaN)基础知识

第三代半导体氮化镓(GaN)。它以其卓越的性能和广泛的应用领域,在科技界掀起了一阵热潮。   今天我....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-27 16:06 405次阅读
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一种名为MARORA的等离子体选择氧化装置

‍‍‍ 随着半导体器件的精细化,晶体管栅极的尺寸逐渐缩小或微小结构越来越复杂。蚀刻过程中,蚀刻损伤会....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-27 15:59 194次阅读
一种名为MARORA的等离子体选择氧化装置

硅晶棒产率提升措施

‍‍‍ 主要回答以下两个问题:加大硅芯直径对产率有什么影响?加大硅棒的最终直径对产率有什么影响?  ....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-27 10:56 140次阅读
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隧穿晶体管的原理及优势

本文介绍了隧穿晶体管的原理及它的优势。   我们所处的这个由永远在线的个人电脑、平板电脑和智能手机构....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-27 09:04 227次阅读
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等离子清洗威廉希尔官方网站 原理‍‍、分类‍‍‍、特点、应用及发展趋势

‍‍‍ 等离子清洗威廉希尔官方网站 是一种新型的表面处理威廉希尔官方网站 ,它通过利用等离子体中的活性粒子与材料表面的化学反应,....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-26 11:42 295次阅读

晶圆/晶粒/芯片之间的区别和联系

本文主要介绍‍‍‍‍‍‍晶圆 (wafer)/晶粒 (die)/芯片 (chip)之间的区别和联系。....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-26 11:37 611次阅读

透射电镜(TEM)样品制备方法

透射电子显微镜(TEM)是研究材料微观结构的重要工具,其样品制备是关键步骤,本节旨在解读TEM样品的....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-26 11:35 380次阅读
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显微镜在芯片失效分析中的具体应用场景及前景

‍‍‍ 在芯片这个微观且精密的领域,失效分析犹如一场探秘之旅,旨在揭开芯片出现故障背后的秘密。而显微....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-26 11:32 260次阅读

如何测量晶圆表面金属离子的浓度

‍‍‍ 本文主要介绍如何测量晶圆表面金属离子的浓度。‍   金属离子浓度为什么要严格控制?‍‍‍‍ ....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-26 10:58 118次阅读
如何测量晶圆表面金属离子的浓度

塑封、切筋打弯及封装散热工艺设计

本文介绍塑封及切筋打弯工艺设计重点,除此之外,封装散热设计是确保功率器件稳定运行和延长使用寿命的重要....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-26 10:46 364次阅读
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光学线型编码器中的成像扫描、干涉扫描及全息型原理

  本文介绍了光学线型编码器中涉及到的成像扫描原理、干涉扫描原理以及全息型原理。 一、成像扫描原理 ....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-26 09:57 264次阅读
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高K金属栅极的结构、材料、优势以及工艺流程

本文简单介绍了高K金属栅极的结构、材料、优势以及工艺流程。   High-K Metal Gate(....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-25 16:39 482次阅读
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突破晶体管功耗难题新希望之光学声子软化

光学声子软化是光学声子的振动由“激昂强烈”变得“缓慢柔和”的现象,一般会引起材料的界面退极化效应,但....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-25 09:53 196次阅读
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半导体的能带理论

本文较为详细地介绍半导体的能带理论。   半导体能带理论及结构 半导体威廉希尔官方网站 的持续发展得益于半导体理论....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-25 09:31 506次阅读
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什么是大模型、大模型是怎么训练出来的及大模型作用

本文通俗简单地介绍了什么是大模型、大模型是怎么训练出来的和大模型的作用。   什么是大模型 大模型,....
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摄像头及红外成像的基本工作原理

本文介绍了摄像头及红外成像的基本工作原理,摄像头可以将看到的图像真实的呈现出来,所见即所得! 摄像头....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-25 09:28 338次阅读
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用来提高光刻机分辨率的浸润式光刻威廉希尔官方网站 介绍

  本文介绍了用来提高光刻机分辨率的浸润式光刻威廉希尔官方网站 。 芯片制造:光刻威廉希尔官方网站 的演进 过去半个多世纪,摩尔....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-24 11:04 465次阅读
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介绍

量子计算机与普通计算机工作原理的区别

  本文介绍了量子计算机与普通计算机工作原理的区别。 量子计算是一个新兴的研究领域,科学家们利用量子....
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一文看懂刻蚀角度与ICP-RIE射频功率的关系

本文介绍了用ICP-RIE刻蚀接触孔工艺中,侧壁的角度与射频功率关系大不大,以及如何通过调节功率来调....
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CCD传感器与CMOS传感器的相同之处与不同之处

       本文介绍了CCD传感器与CMOS传感器的相同之处与不同之处。 相对最早发展起来的模拟相....
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GDS文件在芯片制造流程中的应用

本文详细介绍了集成电路设计和制造中所使用的GDS文件的定义、功能和组成部分,并介绍了GDS文件的创建....
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一文了解芯片三维封装(TSV及TGV)威廉希尔官方网站

本文回顾了过去的封装威廉希尔官方网站 、介绍了三维集成这种新型封装威廉希尔官方网站 ,以及TGV工艺。 一、半导体威廉希尔官方网站 发展趋势 ....
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浮栅晶体管的组成结构以及原理

浮栅晶体管主要是应用于于非易失性存储器之中,比如nand flash中的基本单元,本文介绍了浮栅晶体....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-24 09:37 440次阅读
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共焦传感器的工作原理、分类与典型规格

本文介绍了共焦传感器的工作原理、分类与典型规格。   共焦传感器是一种根据下图所示的共焦原理工作的位....
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光刻机的工作原理和分类

  本文介绍了光刻机在芯片制造中的角色和地位,并介绍了光刻机的工作原理和分类。         光刻....
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MOSFET晶体管的工艺制造流程

本文通过图文并茂的方式生动展示了MOSFET晶体管的工艺制造流程,并阐述了芯片的制造原理。   MO....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-24 09:13 896次阅读
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由MOSFET构成的芯片逻辑门的最基本单元CMOS介绍

介绍了芯片最基本的单元——MOSFET,和由MOSFET构成的芯片逻辑门的最基本单元——CMOS。 ....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-22 13:32 276次阅读
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CP测试与FT测试有什么区别

本文介绍了在集成电路制造与测试过程中,CP(Chip Probing,晶圆探针测试)和FT(Fina....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-22 11:23 306次阅读

CP测试和WAT测试有什么区别

本文详细介绍了在集成电路的制造和测试过程中CP测试(Chip Probing)和WAT测试(Wafe....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-22 10:52 263次阅读
CP测试和WAT测试有什么区别