探针是电子测试和测量领域中非常重要的工具,它们用于接触电路板上的焊盘或测试点,以便进行电气测试或测量。探针的设计多种多样,其中圆头和尖头是两种常见的类型。每种类型的探针都有其特定的应用场景和优势。
圆头探针
1. 设计特点:
- 圆头探针通常具有较大的接触面积。
- 接触点呈圆形,边缘平滑。
2. 应用场景:
- 适用于需要较大接触面积的场合,如测试电源或地线。
- 适合于接触面积较大的焊盘或测试点。
3. 优势:
- 减少接触阻抗,提供更好的电气连接。
- 减少对焊盘或测试点的物理损伤。
4. 劣势:
- 精确度不如尖头探针,不适合精细的测试点。
- 在高密度电路板上可能难以精确定位。
尖头探针
1. 设计特点:
- 尖头探针具有非常小的接触点。
- 接触点尖锐,便于精确定位。
2. 应用场景:
- 适用于高密度电路板或精细的测试点。
- 适合于需要精确测量的场合。
3. 优势:
- 提供更高的精确度和定位能力。
- 适合于高密度和精细的电路测试。
4. 劣势:
- 接触面积小,可能导致接触阻抗较高。
- 对焊盘或测试点的物理损伤风险较高。
比较分析
1. 接触面积:
- 圆头探针的接触面积较大,有助于减少接触阻抗。
- 尖头探针的接触面积较小,可能需要更高的接触压力。
2. 精确度:
- 圆头探针在精确度上不如尖头探针,适合于大面积的接触。
- 尖头探针在精确度上有优势,适合于精细的测试点。
3. 适用性:
- 圆头探针适合于电源和地线的测试,以及大面积的焊盘。
- 尖头探针适合于高密度电路板和精细的测试点。
4. 物理损伤:
- 圆头探针由于接触面积大,对焊盘的物理损伤较小。
- 尖头探针由于接触点尖锐,可能对焊盘造成较大的物理损伤。
5. 测试环境:
- 在需要快速测试和大电流测试的场合,圆头探针更为合适。
- 在需要精细测量和高密度电路板测试的场合,尖头探针更为合适。
结论
圆头和尖头探针各有优势和适用场景,选择合适的探针类型对于确保测试的准确性和效率至关重要。在实际应用中,可能需要根据具体的测试需求和电路板设计来选择最合适的探针类型。
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
举报投诉
-
电路板
+关注
关注
140文章
4952浏览量
97694 -
探针
+关注
关注
4文章
208浏览量
20427 -
焊盘
+关注
关注
6文章
551浏览量
38134 -
电子测试
+关注
关注
0文章
56浏览量
18422
发布评论请先 登录
相关推荐
什么是晶圆测试?怎样进行晶圆测试?
`晶圆测试是对晶片上的每个晶粒进行针测,在检测头装上以金线制成细如毛发之探针(probe),与晶粒上的接点(pad)接触,测试其电气特性,不合格的晶粒会被标上记号,而后当晶片依晶粒为单位切割成独立
发表于 12-01 13:54
我们告诉您测试探针的原理是什么?
、圆头或者平头,IC脚位使用梅花头形等全依靠有经验的制作人员依PCB成品上的零件去选取。纳米化对探针来说只是材料的加强,对于测试治具的冲击是没有的,如果你有兴趣,对测试治具冲击应该是测试仪器部分,比如AOI检测。
发表于 07-05 16:20
晶圆探针去嵌入威廉希尔官方网站 有什么看法吗?
我们想要描述SMA连接器和尖端之间的共面晶圆探针。我们正在考虑使用“微波测量手册”第9.3.1节中的“使用单端口校准进行夹具表征”。我们将使用ECAL用于SMA侧,并使用晶圆SOL终端用于探头侧
发表于 01-23 15:24
测头探针怎么选择?
进行有效探测的关键因素之一是进行测头探针的选择,是否能够触测到特征并在接触时保证一定的精度是使用者应当重点考虑的事情。目前,探针的种类很多,包括了各种形状和不同的制作材料。本文将重点对探针
发表于 08-22 06:13
什么是探针?相比pogopin探针模组,弹片微针模组有什么优势?
什么是探针?探针其实就是一种高端精密型的电子元件,主要应用于手机等电子产品中,起连接作用。文中介绍的测试探针相当于一个媒介,测试时可用探针的
发表于 03-30 14:26
•5397次阅读
晶圆探针测试主要设备有哪些
晶圆探针测试也被称为中间测试(中测),是集成电路生产中的重要一环。晶圆探针测试的目的就是确保在芯片封装前,尽可能地把坏的芯片筛选出来以节约封装费用。
浅谈晶圆探针测试的目的 晶圆探针测试主要设备
晶圆探针测试也被称为中间测试(中测),是集成电路生产中的重要一环。晶圆探针测试的目的就是确保在芯片封装前,尽可能地把坏的芯片筛选出来以节约封装费用。
发表于 01-04 16:11
•2198次阅读
半导体晶圆测试的探针卡与LTCC/HTCC的联系
晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动,在测试过程中,测试机台并不能直接对待测晶圆进行量测,而是透过探针卡(Probe Card)中的探针
发表于 05-08 10:36
•1544次阅读
晶圆测试设备的“指尖”——探针卡
探针卡是半导体晶圆测试过程中需要使用的重要零部件,被认为是测试设备的“指尖”。由于每一种芯片的引脚排列、尺寸、间距变化、频率变化、测试电流、测试机台有所不同,针对不同的芯片都需要有定制化的探针卡
探针头型怎么选择尺寸
所需的精度。高精度的测试往往要求更精细的探针头型。 被测点形状 :被测点的形状直接影响探针头型的选择。例如,凸起的平片状被测点适合尖头探针,而凹状被测点则可能需要九爪
探针头型使用方法有哪些
。 使用方法 :将凹头探针的凹槽对准被测点,轻轻施加压力,确保探针与被测点良好接触,进行电性能测试或信号传输。 2. 尖头探针 用途 :主要
评论