矢量网络分析仪(VNA)是一种广泛应用于射频和微波电路测试领域的仪器,它能够测量被测设备的幅频特性和相频特性等参数。其中,对被测设备的衰减特性的准确测量是VNA应用中的一个重要指标。
E5080B是是是Keysight公司推出的一款高性能矢量网络分析仪,其具有业界领先的测量性能和丰富的测量功能。下面我们就来介绍一下使用E5080B测量被测设备衰减特性的具体步骤。
1. 仪器连接
首先,将被测设备的输入端连接到VNA的Port1,输出端连接到VNA的Port2。确保所有连接均牢固可靠,以减少测量过程中的测试误差。
2. 校准
在正式测量之前,需要对VNA进行校准,以消除测试线缆、连接器等因素对测量结果的影响。E5080B支持多种校准方法,用户可以根据实际情况选择合适的校准方式,如单端口校准、双端口校准等。校准完成后,VNA的测量精度将大幅提高。
3. 设置测量参数
进入测量界面后,需要设置合适的测量参数。首先,选择测量S参数为S21,即从Port1到Port2的传输参数。然后,设置频率扫描范围,覆盖被测设备的工作频段。同时,可以调整分辨率,即频率步进,以获得所需的测量精度。
4. 执行测量
设置完参数后,即可开始测量。E5080B支持多种测量模式,用户可以选择连续扫描、单点测量等,根据实际需求进行灵活调整。测量过程中,VNA会自动采集幅度和相位数据,并实时显示在屏幕上。
5. 数据分析
测量完成后,用户可以对获取的数据进行进一步分析。E5080B内置了丰富的数据分析功能,包括幅度/相位曲线绘制、数据导出、标记测量等。通过这些功能,用户可以深入了解被测设备的衰减特性,为电路优化提供依据。
综上所述,使用E5080B矢量网络分析仪测量被测设备的衰减特性需要经历仪器连接、校准、参数设置、测量执行和数据分析等步骤。只有严格按照操作流程,并合理利用VNA的各项功能,才能获得可靠、准确的测量结果。同时,用户还需要具备一定的测试知识和操作经验,以确保测量过程的规范性和测量结果的合理性。
审核编辑 黄宇
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