清微智能在本周宣布新型专利“一种IC验证中实现双DUT验证的方法”已于今年3月获批。该项专利内容由该集团独立研究,申请日期优先于2024年3月26日。
据了解,这项发明将使IC验证环境更加精简及高效,受益方面包括IP验证速度提升以及验证流程简化等。
值得指出的是,尽管现有方法通过配置MONITOR进行验证,但这些过程耗费大量时间。然而,相较之下,清微新发明仅需运用新增DUT中的CPU读取数据,便能实现更快速和便捷的验证方式。
同时,如若待验证IP发生改变,无需重新建立验证环境乃至更新 CASE,大大减少了项目间验证环境的传承难度。
另外,这种验证方式简化了对MONITOR采集方案或UVM验证环境的关注,有助于防止数据错误,提高设计人员协助调试时的便利性。
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