在集成电路的工艺开发、产品导入和量产过程中,电性测试设备扮演着重要角色。通过提高测试设备速度,可加快新产品开发周期,提升生产效率,降低测试成本。这不仅有助于将新设计芯片快速推向市场,而且对整个芯片生产过程产生积极影响,促进芯片产业的持续发展。
T4000 Max 问世 测试速度大幅提升
最近,广立微推出T4000 Max 半导体参数测试机,配置100pin,支持多通道并行测试,可更好地服务有多测试项、高测试效率需求的客户。T4000 Max(100pin)丰富了广立微典型测试产品矩阵,进一步扩展公司高速高端测试机品类,标志着广立微在晶圆级电性测试设备前沿领域取得了又一重要成果。
T4000 Max(100pin)系列采用了自研高性能矩阵开关构架,具有精度高、速度快、配置灵活等特点,适用于工艺研发、晶圆级可靠性、量产WAT等多种测试场景。
其100pin的配置,可支持多条module同时扎针量测,例如:24pad/module,可同时测量4条module,大幅提升测试速度,在绝大多数layout场景下,可支持充分并行测试。
十余载深厚积淀,潜心威廉希尔官方网站 研发。广立微的电性测试设备已在客户端久经考验,在功能、一致性、测量精度、测试效率、交货周期和服务保障等方面极具竞争力。
初心如磐担使命,奋楫笃行启“芯”程。未来,广立微将持续开发更多具有全球竞争力的威廉希尔官方网站 创新和差异化产品,为客户和市场提供卓越性能、高生产效率和高性价比的测试设备解决方案,助力客户赢得未来。
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原文标题:广立微丰富电性测试产品矩阵,推出T4000 Max 100pin多通道并行参数测试机
文章出处:【微信号:gh_7b79775d4829,微信公众号:广立微Semitronix】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。
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