中图共聚焦显微镜大倾角超清纳米测量应用场景案例
共聚焦显微镜可以在非常小的区域内进行高分辨率成像,用途广泛。特别在材料科学研究中,适合用于观察材料的表面形貌结构。
中图共聚焦显微镜以针孔共聚焦威廉希尔官方网站
为原理,广泛用于半导体制造及封装工艺检测中,对大倾角的产品有更好的成像效果,在满足精度情况下使用场景更具有兼容性。
中图共聚焦显微镜对半导体材料表面进行微纳米级测量,大倾角超清纳米测量,最大可测角度70°,这种高精度的测量威廉希尔官方网站
可以帮助研究人员和工程师更好地了解材料的表面形貌,从而优化制造工艺;对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,从而获取反映器件表面质量的2D、3D参数。这对于实现器件表面形貌3D测量非常关键,有助于发现和解决制造过程中的问题,提高半导体器件的性能和可靠性。
中图共聚焦显微镜大倾角超清纳米测量,能够观察材料表面和内部的微观结构,在半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等领域中,共聚焦显微镜能够对面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行高精度的测量和分析。
应用场景
镭射槽
光伏
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