杭州季丰电子ESD测试业务一直深受客户的信任和好评,实验室近期又对Thermo Celestron TLP(Standard TLP)测试系统进行了升级。Celestron TLP测试系统是业界极为全面的TLP测试系统,它利用图形来辅助系统设置和与DUT的连接。
在检测运行期间,系统可显示记录的TLP脉冲电压和电流波形、编制的脉冲 I-V 曲线、泄漏电流测量结果以及DC I-V 曲线追踪数据。可选择测试电压(应力脉冲)的范围、脉冲极性、漏电及曲线追踪参数,也可在采集数据后选择和修改TLP脉冲测量窗口的位置和持续时间。
此次升级增加了10ns和1ns的脉冲上升沿滤波器模块,加上原来的2ns,基本满足Standard TLP测试要求,使得杭州季丰ESD业务能力更全、更快、更好地服务于杭州本地及周边客户。
什么是TLP?
TLP是Transmission Line Pulse,传输线脉冲发生器,是一种集成电路静电放电防护威廉希尔官方网站 的研究测试手段。与传统的HBM、MM、CDM、IEC模型不同,传输线脉冲发生器发出的是静电interwetten与威廉的赔率体系 方波,而传统模式发出的则是RC-LC模式的脉冲波形,与之相对应的,传统的HBM等波形更直接地模拟了现实中的某种静电形式,而TLP通过调节上升沿和脉冲宽度,间接地模拟了这些静电脉冲形式的损伤能力和不同上升沿CLAMP触发能力。
由于使用了方波,TLP可以通过每次施加一个脉冲,获得一个I-V点的方式,一直施加不同幅值的电流直到测量泄露电流(Leakage)判定失效为止,即可获得完整的器件在ESD过程中的I-V曲线,而这种曲线,则可以用于集成电路ESD防护设计的仿真,达到集成电路ESD防护结构设计目的。
TLP一般用于验证器件Device 特性,通常不考虑Whole Chip之ESD特性,广泛用于IP设计公司,例如Foundry厂,其无法预知到其IP用于何处,只能针对Testing Chip做TLP仿真验证;其测试需要手动搭建,只能针对性验证特定架构,无法做Whole chip测试。
Celestron TLP的简易模型:
如何解读Celestron TLP测试结果曲线:
以常见的NMOS测得的TLP曲线为列,其TLP曲线可以理解为如下图所示,通过TLP的曲线得到的信息可以方便的为ESD保护管的设计和选型提供参考。
Celestron TLP其他具体优势如下:
·硅片和封装级TLP测试
·符合ANSI STM5.5.1-2016的TLP测试标准
·高电流 TLP 脉冲发生器
·集成式+/-200V电源/仪表单元
·可与半自动探针台连接
·先进、直观的软件用于控制和生成报告
·占用空间较小的工作台
审核编辑:汤梓红
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原文标题:杭州季丰ESD-TLP介绍
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