光时域反射仪（OTDR）测试中常见曲线的分析（下）

接上一篇，下篇我们将主要介绍外部因素下对测试曲线的影响，以及波纹曲线所呈现的实际含义。

一、外部因素引起的可能曲线变化

这里的外部因素指施加于光缆并传递至光纤的张力及侧向受力，还有温度的变化。这些都会造成曲线弓形弯曲。外部因素引起的弓形弯曲在外力作用下使曲线斜率改变。如图所示，外力作用前曲线斜率恒定，在外力作用下可出现如下情况之一：

二、波纹曲线图

指曲线有与脉冲频率相似的纹状态曲线。其产生原因有可能是受测光纤工作频率与带宽频率刚好相同,此情况下, 改变测试脉宽，同时应从受测光纤的两端进行测量。

三、实际在测试中最常见的异常曲线、原理和对策

现象：光纤未端无菲涅尔反射峰，曲线斜率、衰减正常，无法确认光纤长度。

原因：光纤未端面上比较脏或光纤端面质量差。

对策：清洗光纤未端面或重新做端面。

现象：曲线成明显弓形，衰减严重偏大或偏小，无菲涅尔反射峰。

原因：量程设置错误（不足被测光纤长度2倍以上）。

对策：增大量程。

现象：在曲线斜率恒定的曲线中间有一个“小山峰”（背向散射剧烈增强所致）。

原因：

（1）光纤本身质量原因（小裂纹）；

（2）二次反射余波在前端面产生反射。

对策：在这种情况下改变光纤测试量程、脉宽、重新做端面，再测试如“小山峰”消失则为原因（2），如不消失则为原因（1） 。

现象：在光纤纤连接器、耦合器、熔接点处产生一个明显的增益。。

原因：模场直径不匹配造成的；

对策：测试衰减和接头损耗必须双向测试，取平均值。

现象：曲线斜率正常，光纤均匀性合格，但两端光纤衰减系数相差很大。

原因：模场不均匀造成，一般为光纤拉丝引头和结尾部分。

对策：测试衰减必须双向测试，取平均值。

现象：在整根光纤衰减合格，曲线大部分斜率均匀，但在菲涅尔反射峰前沿有一小凹陷。

原因：未端几米或几十米光纤受侧压。

对策：复绕观察有无变化。

现象：1310nm光纤曲线平滑，光纤衰减斜率基本不变，衰减指标略微偏高，但1550nm光纤衰减斜率增加，衰减指标偏高。

原因：束管内余长过短，光纤受拉伸。

对策：确认束管内的余长，增加束管内的余长 。

现象：1310nm光纤曲线平滑，光纤衰减斜率基本正常，衰减指标正常，但1550nm光纤衰减斜率严重不良，衰减指标严重偏高。

原因：束管内余长过长，光纤弯曲半径过小。

对策：确认束管内的余长，减少束管内的余长。

现象：尾纤与过渡纤有部分曲线出现有规则的曲线不良，但被测光纤后半部分曲线正常，整根被测光纤衰减指标基本正常。

原因：一般是由设备本身和测试方法综合造成的。

对策：关机，重新起动，对各个光纤接触部分进行清洁。