1. LDO的稳定性问题
这篇文章实际是之前的文章“一种用于LDO的super source follower结构”的姐妹篇。在前一篇文章里提到过,在LDO输出有片外大电容稳压的情况下,输出节点为系统主极点。在轻负载(iload接近0)时,输出电阻大,主极点低;重负载(iload接近LDO最大负载电流)时,输出电阻小,主极点高。考虑到内部运放输出节点电阻大,而pass device的栅极寄生电容大,为了保证全负载范围内的稳定性,一般会在内部运放输出和pass device之间插一级buffer,避免内部次极点太低频。前一篇文章里介绍的是用super source follower来做buffer,而本文旨在用super current mirror来做buffer。
再复习一下我们对super source follower的要求: 输入电容足够小,输出电阻足够小,且功耗足够低。 事实上,即便换成super current mirror,要求也是一样的。
2. Super current mirror
图一
图一是用current mirror来做LDO buffer stage的典型例子。运放输出节点连接一个NMOS的栅极,这个NMOS实际是作为一个gm cell,将VEA转化为电流。再连接diode-connected PMOS,将电流以1:K的比例镜像给功率管MP。可以看到,中间这个buffer的输出阻抗Zo=1/gm。
如何对传统的current mirror进行改善呢?答案如图二。对右侧的super current mirror,稳态时电流分布如下:iB2=iB1=IOUT/K,iB4=iB6=iB5=IOUT/(3*K),iB3=4*IOUT/(3*K),那么IIN=IOUT/K。反过来看,这个电流镜以1:K的比例将输入电流镜像出去,和左侧传统电流镜的功能一样。
图二
瞬态时 ,输入电流IIN一旦增加Δi,MB5和MB6电流减小Δi,VBoost上升Δi*(ro4||ro6),通过MB1使IBoost增加Δi*(ro4||ro6)*gm1,迅速拉低VG点,使IOUT增大。可见,瞬态时,IBoost通过这个反馈环路的放大,可以加速VG这个大电容节点的拉低,那么super current mirror的瞬态响应速度就比传统电流镜更快。随着VG的拉低,一方面,MB3电流增大,使MB5电流增加,形成一个负反馈环路;另一方面,MB4电流也增大,使VBoost电压继续升高,形成一个正反馈环路。
下面分析下 环路稳定性 。将MB1的gate和MB4/6的drain断开,假设MB1的gate电压增大Δv, IBoost减小Δvgm1,MB3,5,6的电流减小Δvgm14/3,VBoost减小Δvgm1 4/3 (ro4||ro6),则此负反馈环路的增益为gm1 4/3 (ro4||ro6)。再看右侧正反馈环路,MB4电流增大Δvgm11/3,VBoost增大Δvgm11/3*(ro4||ro6),则正反馈环路增益为gm1 1/3 (ro4||ro6),由各支路电流比例保证正反馈增益小于负反馈增益,低频情况下可保证由负反馈主导。
那么随着频率的升高,如何保证相位裕度足够呢?作者在MB2的gate和MB4的gate之间加了一个电阻Rc,但并未具体推导。对此,笔者自己画了个等效模型并做了如下推导(此处认为Rc>>1/gm2,可能有不严谨的地方,仅供参考):
图三
为了方便阅读,重新贴一张图二在这:
图二
假如Rc=0,Cg2直接挂在VG上,会在整体环路里引入一个gm2/Cg2的次极点;而引入Rc后,次极点约为1/(RcCg2),但同时引入一个左半平面的零点1/(4/3Rc*Cg2),基本可以抵消次极点的影响。
再回头看我们起初对buffer的要求: 输入电容足够小,输出电阻足够小,且功耗足够低。 在本文介绍的结构中,输入电容和传统电流镜并没有太大变化,且功耗增加了,但输出电阻减小了。同样可以由图三推导Cg2节点的等效电阻,由于环路增益的抑制,使得此节点阻抗减小了非常多。
最后,贴一张原文里的对比图:
图四
可以看到,由于输出阻抗减小,整体带宽显著增加。
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