1
关于产测工具的连载文章
【威廉希尔官方网站 专栏】泰凌微电子产测工具使用方式一
【威廉希尔官方网站 专栏】泰凌微电子产测工具使用方式二
【威廉希尔官方网站 专栏】泰凌微电子产测工具使用——配置带PA芯片的测试脚本
2
量产工具开始测试后,界面出现load err,
该怎么解决?
解答:load err产生的原因是sws数据线通讯不正常,属于常见错误。
量产工具测试流程是Jig evk板子通过sws线把测试固件加载到dut的ram中,当这个过程出现的错误就会提示load err。出现问题后先检查下连线是否存在异常,大部分就可以解决。接线方式如下:
参考文档:《AN_18102501-C1_Assembly and Maintenance Manual for Telink BLE 1x6 Test System》
3
点击start之后,窗口提示err open database,
该如何解决?
解答:软件打开时会生成数据库文件,每次“RUN”都会保存烧录状态到数据库文件里面,文件路径“EvkMonitordatabase[日期][时间].db”。如果[日期]或者[时间]有中文,或者软件所在目录有中文或者空格,都会导致数据库文件生成失败。除此之外还要检查电脑日期是否带中文,若带中文星期几也不行,可以按照如下方法修改系统时间格式:
点击右下角的时间,将时间设置中的星期去掉。
如果以上都没有问题,则检查test.tls中的##test_name:测试项名称是否有同名,若有同名请修改,此处同名会导致生成的config.ini文件中ITEM的name有同名,此时就会创建数据库失败。
参考文档:《AN_18101001-C2_Telink EvkMonitor User Guide.pdf》
4
在EvkMonitor软件上如何打开log信息?
解答:在Tcon下打开log然后根据你命名的USB_ID进行选择,命名为0就选择EVK0
如果弹出下面的窗口,怎么办?
弹出窗口直接点击在确认后会出现下面窗口点击确定就可以使用log了。
通过log信息我们能快速定位出错原因。如下面报错是接收灵敏度不过,那可能是天线测试距离过远,或者阈值需要调整。接口的具体说明可参考《AN_20021101-C1_Decription of the Script test.tls of EVK Testbench BLE 2M Flash.pdf》
5
在烧录固件时,出现flash CRC err,
如何解决?
解答:这代表当你更换BIN文件时没有完全擦除之前的BIN文件,需要重新设置擦除值。
具体操作:可以在脚本文件text.tls中更改擦除大小,这里需要注意设置的擦除值必须是4的倍数同时比你导入的BIN文件要大。
另一种方法是可以打开EVK——Configure——lastTemplate配置界面。
在这里来修改你的擦除值。
6
生产过程中,出现IdLimit该怎么解决?
解答:这种情况是工具上配置的mac地址用完了,重新设置即可。具体烧录方式可以看下往期的文章,里面有详细介绍。
注:文中所提参考文档及软件可联系泰凌销售获取:telinksales@telink-semi.com。
关 于 泰 凌
泰凌微电子致力于为客户提供一站式的低功耗高性能无线连接SoC芯片解决方案,包括经典蓝牙,蓝牙低功耗,蓝牙Mesh,Zigbee,Thread,Matter,Apple HomeKit,Apple“查找(Find My)”,和私有协议等低功耗2.4GHz多协议无线连接系统级芯片和丰富的固件协议栈。公司产品广泛应用于智能照明,智能家居/楼宇,智能遥控,无线外设,智能零售,穿戴设备,无线音频,智能玩具,物流追踪,智慧城市等各类消费和商业应用场景中。
官网:www.telink-semi.com
微信公众号:telink-semi
https://developers.telink-semi.cn/
销售接洽:
中国大陆(华东、华北) :
+86-21-20281118-8213
中国大陆(华南、香港、音频) :
+86-0755-26614003
telinksales@telink-semi.com
原文标题:【威廉希尔官方网站 专栏】泰凌微电子产测工具使用——常见问题解决方法(一)
文章出处:【微信公众号:泰凌微电子】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。
-
泰凌微
+关注
关注
7文章
147浏览量
10806
原文标题:【威廉希尔官方网站 专栏】泰凌微电子产测工具使用——常见问题解决方法(一)
文章出处:【微信号:telink-semi,微信公众号:泰凌微电子】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。
发布评论请先 登录
相关推荐
评论