Toshiba推出适用于半导体测试仪高频信号开关的小型光继电器

Toshiba Electronic Devices & Storage Corporation ("Toshiba")日前推出了"TLP3475W"。这款光继电器采用小巧轻薄的WSON4封装，可降低插入损耗并抑制高频信号[1] 的功率衰减，适用于使用大量继电器并需要高速信号的半导体测试仪引脚电子装置。该产品即日起开始批量发货。

Toshiba的优化封装设计减少了新款光继电器中的寄生电容和电感。这降低了插入损耗，将高频信号的传输特性提高到20GHz（典型值） [2]，比Toshiba当前产品TLP3475S低约1.5倍[2]。

TLP3475W采用小巧轻薄的WSON4封装，厚度仅为0.8毫米（典型值），使其成为业内最小的 [3]光继电器，从而实现了更好的高频信号传输特性。与Toshiba的超小型S-VSON4T封装相比，它的高度降低了40%，从而可以在同一电路板上安装更多产品，并有助于提高测量效率。

Toshiba将继续扩大其产品阵容，以支持速度更快、功能更多的半导体测试仪。

应用

半导体测试仪（高速存储器测试仪、高速逻辑测试仪等）

探针卡

测量设备

特性

业界最小的[3]WSON4封装：1.45mm×2.0mm（典型值），t=0.8mm（典型值）

改善高频信号通过特性：f=20GHz（典型值）@插入损耗(S21) = -3dB

常开功能(1-Form-A)

备注：

[1] 当频带在几百兆赫至几十兆赫范围内时。
[2] 信号通过输出MOSFET时，信号功率衰减比（插入损耗）为-3dB的频段。
[3] 针对光继电器。截至2023年10月的Toshiba调查。

主要规格