【CVM01系列】| MCU硬件设计指南：调试和编程接口

01、RESET系统

复位MCU可使MCU从已知的初始条件下开始运行。系统复位开始时，片上稳压器处于完全工作状态，系统时钟由内部参考时钟产生。

外部引脚RESET

对于所有的复位源，RESET_B引脚都会被MCU驱动为低电平，时长至少维持128个总线时钟周期，直到闪存初始化完成。在闪存初始化完成后，RESET_B引脚被释放，芯片内部复位信号失效。外部保持RESET_B引脚被拉低，会延迟芯片内部复位信号的失效时间。如果发生外部引脚复位，复位模块的状态寄存器中相应的标志位会被置位。因此，应用软件可以通过读取该寄存器来检测外部引脚的复位。

复位引脚，与其他一些GPIO类似，有一个弱的内部上拉。如果环境和客户的应用存在噪声影响，就必须在复位引脚上直接加一个外部上拉电阻到VDD，以避免发生随机的或意外的复位。关于该引脚允许的电压和电流水平，请参考器件的数据手册。

尽管复位线中的电容对MCU来说不是必须项，但在某些情况下，为了进一步增加ESD保护，会在RESET引脚和地之间添加一个外部电容。上拉电阻和电容的值须根据应用的设计要求选择。关于MCU可检测到的最小RESET脉冲值，请参考器件的数据手册。

02、RJTAG和TRACE接口

本章节列举了一些常用的调试连接器，大多数ARM开发工具都会使用这些引脚。当开发ARM电路板时，建议使用标准的调试信号排列，以使与调试器的连接更容易。SWD/SWV引脚叠加在JTAG引脚之上，如下所示。

△表1CVM01xx – JTAG和SWD信号描述

△表2CVM01xx – JTAG和SWD接口

注意：可以为JTAG信号添加外部上拉/下拉电阻，以增加调试器连接的稳定性。

△图1JTAG/SWD信号连接

03、调试连接器引脚布局

3.120针 Cortex Debug D ETM 连接器

部分较新的ARM微控制器板使用一个1.27mm间距的20针头（Samtec FTSH-110），用于调试和跟踪，20针Cortex Debug D ETM连接器支持JTAG和Serial-Wire调试协议。当使用Serial-Wire调试协议时，TDO信号可用于Serial-Wire观测器的输出，用于跟踪捕获。该连接器还提供了一个4位宽的跟踪端口，用于捕获有更高带宽需求的跟踪调试（例如，当ETM跟踪被启用时）。

△图220针Cortex Debug D ETM连接器引脚布局

3.210针 Cortex 调试连接器

对于没有ETM的设备，可使用更小的1.27毫米间距的10针连接器（Samtec FTSH-105）进行调试。与20针的Cortex Debug D ETM连接器类似，10针版本的连接器同样支持JTAG和Serial-Wire调试协议。

△图310针Cortex调试连接器引脚布局

3.3传统的20针 IDC 连接器

ARM开发板中常用的调试连接器是20针IDC连接器，20针IDC连接器支持JTAG调试、Serial-Wire调试（SWIO和SWCLK）、串行线输出（SWO）。

nICEDETECT引脚允许目标系统检测是否有调试器连接。当没有调试器连接时，该引脚被拉高，而调试器连接时将该引脚连接到地，常被使用在支持多种JTAG配置的开发板；nSRST连接是可选的，调试器可通过系统控制块（SCB）复位Cortex-M系统，所以此连接在做微控制器顶层设计时常被省略。

△图420针的IDC连接器

来源：深圳曦华科技

审核编辑：汤梓红