什么是test point？test point的作用有哪些？

什么是test point

Test point指的是在电路或芯片设计中特别添加的电路元件或逻辑，以便在测试时可以轻松地检测电路的正确性。Test point的添加有助于提高测试覆盖率和测试效率，从而减少测试成本，加快产品上市时间。

使用test point的目的

使用test point的目的有：

1、减少确定性pattern的数量。在某些情况下，测试覆盖率也可能会提高，但通常提高幅度很小；

2、提高random pattern resistant faults的测试覆盖率。插入测试点是为了提高随机性pattern控制给定故障点、观察给定故障点或两者兼有的概率；

3、提高ATPG期间undetected故障的覆盖率。

Test Point Insertion****介绍

插入的test point分为control point 和observe point两类，而其中的control point又可以分为OR control point和AND control point。

Control Point

先来看一下插入OR control point整个过程中电路的变化情况。

在做完ATPG的report中看到测试覆盖率不满足要求，报告中一个例化名为U1024的四输入与门的输出端Y有故障。分析该故障点，发现该点可以单独控制或观察，但当将两种情况结合在一起时便无法检测到。

于是，我们决定在输出Y处插入一个OR control point，调出电路图，发现工具将输出端Y和一些电路基本单元通过一个或门连接在一起。

做完Scan后，再次调出电路图，发现左下角的SFF被连接至Scan Chain了。

OR control point的工作原理为：先将Scan_en信号置为1，通过Scan chain向F1024配值为1。当需要控制Y的值时，可以将test_point_en信号置1，这样就可以将最右侧或门的一个输入端口控制为1，便可以将输出控制为1。

AND control point的工作原理与OR control point类似，只是电路结构稍有不同，在此不作过多赘述。

Observe Point

再来介绍一下插入observe point整个过程中的电路变化。假设上述U1024四输入与门的输入端A0无法观测。于是，我们在输入端A0处插入一个observe point后，调出电路图。

做完Scan后，再次调出电路图，同样发现右侧的SFF被连接至Scan Chain了。

Observe point的工作原理为：将test_point_en信号置1，便可以将A0处的值通过与门传递至F0001的D端，再将Scan_en信号置0，将A0处的值暂存在F0001中。最后将Scan_en信号置1，通过Scan chain将值传播出去，实现了对输入端A0观测的目的。

总结

插入test point 可能对电路带来的一些不利影响：

1、在设计中插入 test point 可能需要占用更多的空间，因为需要添加额外的电路或信号线路，这可能会导致芯片大小的增加，从而增加成本和复杂性；

2、在设计中插入 test point 可能会影响性能，因为需要添加额外的电路或信号线路，这可能会引入噪声或延迟，从而影响芯片的性能。