高速论坛讲座回放|​无缝触及-高速测量环境中仪器与被测件的正确连接

2023高速接口发展

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产品从开发到最后的验证，每一个阶段都会面临回溯的要求，从而能够快速发现和解决我们在产品设计中遇到的问题，但在这个过程中，因为这样或那样的原因，往往会忽略测试点的问题，从而无法实现问题的回溯。如何在研发的每个阶段设置测试点，是研发周期的一项重要任务。

同时，在产品的开发周期中会面临不同的场景，包括芯片的测试验证，封装完之后的器件验证，传输通道的验证，接口一致性验证等等，在这些不同的场景中，需要不同的连接方法，如何确保连接的正确性以及去除影响连接的因素，本次论坛讲座将从细节出发，基于常见的测试验证场景，分享测试仪表与被测件无缝触及的经验。

线上讲座概要

演讲主题

■ 高速测试场景中的仪表连接挑战

■不同环境测试连接考量 - 芯片、传输线(PCB)、接口等

■ 测试连接中的那些事：共性问题分享

讲座回放

请输入

接口测试的连接

罗森伯格奚斌宏、Tektronix郭峰

（本视频时长27分钟）

传输通道（PCB微带线等）

的测试连接

罗森伯格奚斌宏、安立公司 杨东亮

（本视频时长46分钟）

芯片在板的测试连接

Tektronix郭峰

（本视频时长15分钟）

芯片的测试连接

中科睿华宋新洋

（本视频时长18分钟）

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