半导体激光器通常根据老化前(Pre-Burn In)及老化后(Post Burn-In)测量的一个或多个关键运行参数的变化进行筛选,剔除早期失效,提高产品可靠性,这些参数通常包括阈值电流,在特定工作条件下的输出光功率,达到特定输出光功率所需要的电流,斜线效率以及光谱特性等等。
联讯仪器CoC测试
联讯仪器全自动CoC测试系统CT6201 ,与联讯仪器 BI6201老化系统共用夹具,降低了被测芯片上下料的流程,同时也消除了上下料过程中EOS/ESD潜在风险以及CoC产品外观不良的引入。
专利光功率耦合系统设计,确保了光学耦合和光谱测量的快速性和重复性。
特有的双测试载台设计,每个载台可以独立温控,节省升降温等待的时间,配合 CoC 夹具双侧并行测试,大大提高了测试效率。
产品特点及优势
1测试效率高
双测试载台设计
每个载台可以独立温控
同时支持双侧并行测试
自动对比老化前后参数变化量,并给出判定
2测试速度快
每个CoC(DFB)测试时间<7s
快速升降温
3特殊夹具设计上下夹具设计,
老化测试过程中上下不分离,
避免多次压接,提高上电通电率
全自动测试,调高测试效率,
避免人工取放夹具引入的外力损伤
测试夹具与自动上下料系统AL6201/
老化系统BI6201共用
无EOS产生
4联讯自研高精度源表I/V 源分辨率,10fA/100nV
I/V 测量分辨率,10fA/100nV
支持直流或者脉冲电源驱动激光器
5专利设计光耦合系统
确保了光学耦合和光谱测量的快速性和重复性
6测试重复性高阈值电流重复性<±0.5%;功率重复性<±1%
波长重复性<±0.05nm;SMSR重复性 <5dB
7规模化应用
联讯CoC老化测试解决方案
联讯仪器提供CoC/CoS上下料,测试以及老化完整解决方案,适配不同测试温度要求,不同尺寸,不同类型半导体激光器,极大地提高了测试效率,降低了测试成本!
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