光隔离探头助力氮化镓（GaN）原厂FAE解决客户问题

作为功率半导体厂商，为下游客户提供典型应用方案似乎成行业内约定俗成的事。也就是说，作为半导体原厂不仅要设计好芯片，还要亲自设计和验证很多应用方案供下游客户参考或者直接采用，以便让自己的芯片能快速通过下游客户的应用而占领市场。但是下游客户面临的应用场景复杂多样，尽管芯片原厂提供了应用方案的原理图、甚至是PCB参考设计，在下游客户手中仍然会遇到各种各样的威廉希尔官方网站 难题而导致项目停滞不前。

每当这个时候，下游客户希望通过原厂FAE尽快找到解决方案，或者将遇到威廉希尔官方网站 挫折归咎为芯片本身设计问题，尽管不排除芯片可能存在不适用的领域，但是大部分时候是应用层面的问题，和芯片没有关系。这种情况对新兴的第三代半导体氮化镓（GaN）原厂来说尤为常见，其根本原因是氮化镓芯片的优异开关性能所引起的测试难题，下游的氮化镓应用工程师往往束手无策。

某知名氮化镓品牌的下游客户，用氮化镓半桥方案作为3C消费类产品的电源，因电源稳定性一直存在问题，导致其产品研制受阻；工程师寻求原厂FAE威廉希尔官方网站 支持，因测试结果的数据与理论数据相差悬殊，原厂FAE怀疑客户的测试手段可能存在问题，建议客户采用麦科信公司的OIP系列光隔离探头进行测试，让客户测试后再进行下一步沟通。作为光隔离探头的提供方，麦科信工程师对测试过程提供了威廉希尔官方网站 支持。

测试背景：3C消费类产品，其电源采用氮化镓（GaN）半桥方案。

测试目的：氮化镓半桥上下管的Vgs及Vds，分析控制信号的时间及电压是否满足设计要求。

测试设备：示波器TO3004，光隔离探头OIP200B，高压差分探头及无源探头。

测试结果如下：

▲上管开启（黄色光隔离探头），下管关断（蓝色无源探头）

▲上管关断（黄色光隔离探头），下管开启（蓝色差分探头）

▲上管导通Vgs信号波形（光隔离探头）

▲上管关断Vgs信号波形（光隔离探头）

从以上测试结果看，在开关导通和关断的瞬间，尽管无源探头测试的是下管信号，仍然有剧烈的震荡，这是无源探头不能抑制共模干扰导致的，而OIP光隔离探头完全抑制了共模干扰，把真实的信号形态进行了呈现。

现场测试照片如下：

▲测试目标和接线

▲示波器波形画面

后记

该客户将示波器截图发给氮化镓原厂FAE，FAE很直观就发现了电路问题所在。该客户对电源电路进行了调整，最终解决了所有的问题。这个案例对氮化镓原厂FAE来说不算典型，几乎是每天都要面对的情形，因为下游客户测试设备所限，很难真正发现氮化镓电路所存在的问题。常言道“工欲善其事，必先利其器”，借助麦科信OIP系列光隔离探头可以让工程师洞见最真实的信号特征，很快找到问题所在，大大减少原厂FAE和下游客户之间沟通的时间成本。