NanDigits GOF提供一种快速DFT DRC检查的功能

介绍

在芯片做功能ECO时，DFT部分的逻辑常常被破坏，这是由于正常工作模式下修改设计的原因。在功能ECO时，DFT的控制信号被设为无效，ECO工具意识不到DFT逻辑被更改，并且形式验证也验证不出来。我们发现，当ECO过的网表送给DFT工具，DFT工具需要运行很长时间来识别网表是否存在问题。

NanDigits GOF提供了一种快速DFT DRC检查的功能，来检查DFT逻辑中的问题。DFT中最基本的DRC检查就是确认扫描链是否完整，就是说，GOF可以捕获和输出测试进行中的测试pattern。另外，在测试模式下，DFT的时钟和复位必须是要受控的，以便来使能合适的测试pattern。

下图是DFT模式使能后的示意图，TEST_MODE=1，TEST_CLOCK被送到每个DFF的时钟端。

示例

下面是GOF做DFT DRC检查的脚本，先读入lib库和网表，再设置使能DFT模式，并创建时钟、复位、si/so扫描链对，最后运行dft_drc()命令来执行DFT DRC的检查。

# dft_drc.pl
set_log_file("dft_drc.log");#设计log
read_library("art.5nm.lib");#读入lib库
read_design('-imp', 'dft_top.v'); # 读入带有DFT的网表
set_top("DFT_TOP");               # 设置顶层


set_pin_constant("test_scan_shift",1);# 设scanshift为1
set_pin_constant("all_test_reg/Q",1);#设TDRall_test寄存器输出Q为1
set_pin_constant("test_mode_reg/Q",1);#设TDRtest_mode寄存器输出Q为1


create_clock("occ_add_1_inst/U0/Z",10);#创建时钟，周期10ns,可能有多个
create_clock("occ_add_2_inst/U0/Z",10);
create_reset("power_on_reset",0);#创建reset


set_top("DESIGN_TOP");                   # pin_si/pin_so是DFT_TOP的内部pin
set_scan_pairs("pin_si[0]","pin_so[0]");#添加扫描链对
set_scan_pairs("pin_si[1]", "pin_so[1]");


set_top("DFT_TOP");#回到顶层
my$err=dft_drc;#运行DFT DRC检查
if($err){
  gprint("DFT DRC found $err errors
");
}

gof -run dft_drc.pl

结语

NanDigits GOF提供了快速DFT DRC的检查和修复，来保证功能ECO不会影响到DFT扫描链，缩短功能ECO后的DFT修复和验证的时间，帮助客户更快的Tapeout。最新版GOF10.4支持此功能，欢迎试用评估。

审核编辑：刘清