关于AURIX开发板的性能分析和应用介绍-电子发烧友网

问题1：读擦除后的flash区域会卡死

首先遇到的问题是，在调试状态下检验部分程序(即读flash)能够正确执行，但在非调试状态会卡死在读指令。后来知道调试状态的flash读其实读的是RAM。在非调试状态读flash引起了trap总线错误。

在初始化阶段通过设置MARP.TRAPDIS位可以禁止这个错误。

问题2：flash擦除后个别位非0

在调试或非调试状态，都发现flash中没有写入数据的应用程序区域中不是全0。即pflash擦除后，个别bit位确实非0. 由于存在所述问题，因而在bootloader下载程序时，不能只校验求和APP程序数据，还需加和APP程序起始和终止地址之间的空白区域。

程序研究中发现： 1.每次擦除后，非0位的位置是固定的；2.擦除后的非0位，是可以通过写命令来写0的。

在论坛和群里咨询了很多人，有几个同行业遇到了这个情况，但因为程序能正确执行，就没在意这个问题了。

后来在英飞凌官网咨询了威廉希尔官方网站支持工程师，得到的邮件答复说是ECC保护引起的，可以通过使用ILLD库自带的校验函数IfxFlash_eraseVerifyMultipleSectors(dwSectorAddr, numSector);进行检验。我进行了校验，检验结果是无错的(内存区域非全0则报错)。

所以我改了BTLD工程里的刷写程序，之前为在刷写工程中求和烧写的应用程序数据作为存入EEPROM里的值；现在改为：在刷写完成后，求和整个应用程序地址区域的值作为存入EEPROM里的值。

来自生态圈用户linjun

测试评估套件TC-234开箱

到手的TC-234如下图。

1 评估套件概述

TC234KIT 评估套件是面向 Infineon Aurix 单片机——TC234初学者的完整开发工具包，通过评估套件中的开发板、使用说明书、多媒体教程和入门例程，您可以细致的了解 TC234 的功能、原理和工作特性，循序渐进的学习和掌握 TC234的软硬件开发威廉希尔官方网站，先于目标产品的硬件制作，进行软件评估和算法验证，从而加速产品开发进程。评估套件包括评估板、Wiggler 仿真器、资料光盘和使用说明书等，具体如下：

1 评估板

TC234KIT 评估板，没有提供12V/1.3A AC-DC 电源和USB线缆。

2 评估板简介

TC234 评估板，默认 MCU 型号为 SAK-TC234LP-32F200F，通过 TC234 丰富的片上资源以及电路板上的外wei电路，可以对 TC234 处理器的性能资源以及主要外设进行评估和验证。板上有符合安全功能（ISO26262）要求的电源芯片TLF35584，有助于加速功能安全产品的软硬件开发。另外，通过扩展接口，用户可以自行设计外wei电路，验证TC234所提供的其它功能。

3 TC234评估板具有以下资源：

处理器：TC234，最高主频 200MHz

TriCore? DSP运算功能

集成锁步核（Lockstep），便于实现功能安全应用

程序存储器：高达 2MB的片上程序FLASH

数据存储器：192KB 本地数据RAM

1 路 10/100 Mbps 半双工或全双工以太网 PHY 芯片 PEF7071

1 路 CAN 通讯接口，带驱动器（TLE6250GV33）

1 路 LIN 通讯接口，带驱动器（TLE7259-2GE）

4×LED 可编程指示灯，可做状态显示

1×3.3V电源指示灯

2×40 针外部扩展口（数据、地址、控制、GPIO、A/D 等）