氮化镓(GaN) 由于其在高效功率转换和射频开关领域的出色应用,越来越受到工业界的关注。 然而,怎样才能设计出基于GaN器件的高品质电路呢,显然,不断试错的方法不是一个好的方向,一方面价格昂贵,另一方面浪费时间也不一定能解决问题。 在这种背景下,需要一个先进的,准确的模型能够充分描述GaN的器件特性,来获得准确的电路仿真。在本篇文章中,我们简单解读MOS-AK 北京的一篇来自于Dr. Sourabh Khandelwal 的报告 ASM GaN: New Industry Standard Model for GaN-based RF and Power Devices。
ASM GaN 模型, 起源于 Dr. Sourabh Khandelwal的博士论文,在经过了7年的漫长标准模型选择中,脱颖而出,目前已经获得了模型联盟协会的认可。 本篇报告主要讲述ASM模型由来的推导过程,同时用测量的结果加以佐证,当然,模型的发展需要工业界不断的反馈从而进行优化,否则也是纸上谈兵。
ASM GaN 模型是基于物理解释基础的模型,用于不同电路的仿真,比如DC,AC,噪声,开关,以及谐波等。 模型的参数输入有偏置电压,温度以及模型参数(器件尺寸,物理参数,优化参数)。
报告开始,首先列举了模型发展的基础方程,用于GaN器件量子阱中的物理解决方案,利用薛定谔,Poisson方程来导出表面势(Surface potential)。然后与载流子输运方程结合,获得描述电流和终端的电荷方程,然后,在GaN晶体管模型中添加不同效应来描述实际器件的工作特性和状态。
对于电容参数的描述,ASM GaN 是应用场效应板来解决的。当然,模型开发出来后,需要和真正的器件进行对比,比如用于PA和功率转换等:
DC&S&PA :
POWER SWITCH:
在应用案例的仿真和测试数据比对后,模型的品质检测比如对称性和连续性也需要验证:
总的来说, 此篇报告给大家一个比较清晰的标准模型的开发过程,也覆盖到了热门应用和模型质量的验证, 但是,模型和工艺,和电路之间的互馈一直是一个循环的过程,这也是提升模型完整性,完美性的必经之路。每个模型有其优点和弱点,有其应用的范围,如何在标准模型的基础上,二次开发,以产品为主导方向确实需要不断的实践来获得。
最后,如果大家对完整报告感兴趣的,可以点击下面微信热点文章中的“MOS-AK Beijing 会议演讲稿下载” 或者直接点击阅读原文。如果想应用报告中标准模型到生产或者设计中的,或者有疑问的,也可以联系我们。
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