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下一代自动测试系统体系结构

2016-4-16 14:47:33 3835 测试仪器

0 本帖最后由 sinap_zhj 于 2016-4-16 14:52 编辑下一代自动测试系统体系结构首先是信息共享和交互的结构，能够满足测试系统内部各组件间、不同测试系统之间、测试系统与外部环境间信息的共享与无缝交互能力。该结构以VXI Plug&Play（VPP，即插即用）确定的“系统接口”和IEEE P1226（ABBET，A Broad-Based Environment for Test广域测试环境）确定的“信息框架”为主体，其它关键接口均以上述两个核心接口为基础，如：诊断信息系统方面遵循IEEE P1232标准（AI-ESTATE，适用于所有测试环境的人工智能信息交换与服务），在构成分布式综合测试诊断系统时，则遵循TCP/IP网络传输协议。未来通用测试系统软件体系结构将以IEEE制定的ABBET标准为基础实现测试诊断信息的共享和重用。ABBET标准由IEEE P1226.3 ~12等一整套测试领域信息接口标准组成，覆盖与测试信息相关的产品设计、生产到维护的各个环节。采用ABBET标准将实现产品设计和测试维护信息的共享和重用，实现测试仪器的可互换、TPS的可移植与互操作，使集成诊断测试系统的开发更方便、快捷。ABBET标准定义了基于框架的模块化测试软件结构，支持软件资源的重用。ABBET标准的核心思想是：将测试软件合理分层配置，实现测试软件与测试系统硬件、软件运行平台的无关性，满足测试软件可移植、重用与互操作的要求。 0
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