晶振两个电容的作用及测试时需要特别注意的问题

2013-12-23 17:32:13 3397

0 　　晶振的两个电容叫负载电容，分别接在晶振两个脚上的对地的电容，一般在几十PF。据松季电子介绍，它会影响到晶振的谐振频率和输出幅度。　　各种逻辑芯片的晶振引脚可以等效为电容三点式振荡器。晶振引脚的内部通常是一个反相器，或者是奇数个反相器串联。　　在芯片设计时，这两个电容就已经形成了，一般情况下选用两个容量相等的电容。外接时大约是数PF到几十PF，依频率和石英晶体的特性而定，需要注意的是这两个电容串联的值是并联在谐振回路上的，会影响振荡频率。　　当两个电容量相等时，反馈系数是0.5，一般是可以满足振荡条件的，但如果不易起振或振荡不稳定可以减小输入端对地电容量，而增加输出端的值以提高反馈量。　　另外，在测试晶振时，有些方面还是需要特别注意：　　1、每一个单独指标必须单独测试，不能同时测试几种指标，也不能同时测试几只晶振。　　2、测试时要严格按照标准的测试电路和测试环境进行测试。　　3、在没有相当的测试设备和测试人员的情况下，不建议客户自行测试晶振，更不能随意调试晶振，测试设备的等级应至少比晶振指标高一个数量级。　　4、对不同厂家的产品，尤其是来自不同国家的产品，有一些指标的测试方法不尽相同，应提前了解各厂家的异同点，统一意见，以减少不必要的麻烦。 0
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