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FPGA设计中竞争冒险问题的研究

2009-4-21 16:44:44 3724

0 摘要：以现场可编程门阵列(以下简称FPGA)在设计中由于其内部构成，容易引起竞争问题。以我们在实验教学中的应用与实践为主线，详细介绍了消除竞争冒险的各种方法。关键词：现场可编程门阵列；竞争冒险；毛刺 Research of the Competition Risk Problem in Field PrOgram Gates Array(FPGA)Circuits Design ZHANG Qing (Electric and Electronic Lab，E&E school，Shanghai Jiaotong Univ．，Shanghai 200240，China) Abstract：It is easy to cause competition risk problem in Field Program Gates Array (FPGA for short below) circuits design due to its internal mechanism．Based on the applications and exploration of FPGA in electronic engineering experiment teaching，this paper introduced many kinds of method to avoid the competition risk in FPGA design． Key words：field program gates array (FPGA)，competition risk，glitch 游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复 [此贴子已经被作者于2009-4-21 16:45:39编辑过] 0
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