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[原创]穿隧扫瞄显微镜（scanning tunneling microscopy，简称STM）的工作原理

2009-3-10 09:51:51 4278

0 穿隧扫瞄显微镜（scanning tunneling microscopy，简称STM）的运作原理光学显微镜光学显微镜是最早被发展出来增进微观视野的工具。传统的光学显微镜是利用可见光与光学透境的聚焦所制造的，因此，其所能提供的最佳分辨率，大约等于其使用光源的波长（~1?m）。 1940 扫描电子显微镜（SEM）为了改良传统的光学显微镜的不足，于1940 年左右发展出扫描电子显微镜（SEM），利用光学显微镜的原理，改用二次电子束代替可见光源，并且将玻璃镜片换成了电磁镜片，便可将分辨率提高至约20 埃。 1980 扫描穿隧显微术（STM） 1980 年代初期在瑞士的IBM实验室所发展出来的一种新威廉希尔官方网站。它改进了传统微观工具的威廉希尔官方网站，利用电子的穿隧效应，沿材料表面的高低起伏扫描，藉扫描时导致的穿隧电流变化来成像，而非传统利用光学的聚焦来观察，能更直接，更精准的量测物体表面的变化。 STM 的应用及展望主要可分为以下三大领域 csDVxQpC.pdf (499.91 KB, 下载次数: 2 ) 0
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