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您使用的通道，对应的CHnSET寄存器的MUXn[2:0] 位，是否选择了测试信号，即将MUXn[2:0]配置为101？
如果选择采集内部生成的测试信号，就不需要从外部输入信号了； 先验证可以正确采集内部测试信号，以验证ADC读取转换数据没有问题，然后再配置采集外部输入信号 |
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应该是外部电路连接的问题。
以上采集异常时，您采集的信号是发生器产生的单端信号吗？输入信号幅值是什么？您是怎样连接到AD的？因为这款AD的输入是差分输入，单端输入的话，需采用伪差分输入，看下输入信号幅值是否共模电压输入范围？ |
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在4K采样频率下，20-100Hz之间信号畸形的问题可能是由于采样频率和信号频率之间的不匹配导致的。为了解决这个问题，可以尝试以下几种方法：
1. 增加采样频率：将采样频率提高到8K或更高，以确保信号的采样率足够高，从而减少信号畸形的问题。这样可以更好地捕捉到低频信号的细节。 2. 使用抗混叠滤波器：在信号采集前，使用一个低通滤波器（例如巴特沃斯滤波器）来滤除高于采样频率一半的信号。这样可以减少混叠效应，提高信号质量。 3. 调整信号发生器的输出：尝试调整信号发生器的输出，使其在20-100Hz范围内的信号更加平滑。这可以通过调整信号发生器的波形、幅度和相位来实现。 4. 优化采集系统：检查采集系统的硬件和软件，确保它们能够正确处理低频信号。这可能包括检查ADC（模数转换器）的性能、滤波器的设计以及软件算法。 5. 使用软件处理：在采集到信号后，可以使用软件对信号进行处理，以减少畸形。这可能包括使用低通滤波器、窗函数、傅里叶变换等方法来处理信号。 6. 检查信号线和接地：确保信号线和接地连接正确，以减少噪声和干扰。这可能包括使用屏蔽线、减少接地环路等方法。 通过尝试这些方法，可以提高4K采样频率下20-100Hz之间信号的质量，减少信号畸形的问题。 |
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你好，请问您解决这个问题了吗，我在使用这个芯片时也遇到了相同的问题，而且无法采集到200Hz的信号
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只有小组成员才能发言，加入小组>>
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