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我正在尝试使用RTC内存的用户区域来存储值,但我发现某些区域已损坏或无法写入。
我正在使用 NonOS SDK 2.2.1,并编写了一个小程序来将随机大小的数据块写入 RTC 用户内存区域,然后将它们读回。我使用这样的数据结构: #define RTC_SIZE (512 - 2*sizeof(uint32_t)) 结构体 { uint32_t crc; uint32_t len; uint8_t data[RTC_SIZE]; } rtc数据; 用随机数据的随机长度填充 rtcData.data 在 rtcData.len 中存储数据长度 //calculate CRC32 by crc32((uint8_t*)&rtcData.len, sizeof(rtcData)-4) 将 crc 存储在 rcData.crc 中 然后我用以下命令编写数据: system_rtc_mem_write(64, (void *)&rtc_mem, sizeof(rtcData)/4); 然后用以下内容朗读: system_rtc_mem_read(64, (void *)&rtc_mem, sizeof(rtcData)/4); 当我检查校验和时,它不匹配。然后,我打印出之前和之后的数据,我发现大多数数据都匹配,但有几个位置的值不同。每次我尝试写入随机数量的数据时,情况似乎都是如此,而且这些区域似乎分散在 RTC 内存的用户区域中,这使得写入更大的信息块变得非常困难。 我的下一个测试是一次读取和写入一个 32 位值,以尝试绘制出问题槽,但这发生在几个不同的ESP8266模块上(Lolin v3、Wemos、AI Thinker ESP-12F - 我还没有尝试过 WROOM-02) 您是否知道任何使用 RTC 用户内存区域的 SDK 函数,或者 RTC 内存损坏的任何原因? |
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1个回答
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在使用RTC内存的用户区域存储值时,可能会遇到一些区域已损坏或无法写入的问题。这可能是由以下几个原因导致的:
1. **硬件故障**:RTC硬件可能存在缺陷或损坏,导致某些内存区域无法正常读写。 2. **电源问题**:如果电源不稳定或电压不足,可能会导致RTC内存的某些区域无法正常工作。 3. **写入次数限制**:某些RTC内存具有写入次数限制。如果超过这个限制,可能会导致某些区域无法写入。 4. **数据结构问题**:在您的代码中,您使用了`#define RTC_SIZE (512 - 2*sizeof(uint32_t))`来定义数据结构的大小。如果这个值不正确或者与实际可用的RTC内存大小不匹配,可能会导致写入错误。 5. **CRC校验问题**:在您的代码中,您使用了CRC32校验。如果CRC校验失败,可能会导致写入操作被拒绝。 6. **非对齐的内存访问**:在某些硬件平台上,非对齐的内存访问可能会导致性能下降或错误。请确保您的数据结构和内存访问是按照硬件要求对齐的。 7. **软件错误**:在您的代码中,可能存在一些逻辑错误或bug,导致无法正确写入或读取RTC内存。 为了解决这些问题,您可以尝试以下方法: 1. 检查硬件是否存在故障或损坏,并确保电源稳定。 2. 确保您的数据结构大小与实际可用的RTC内存大小匹配。 3. 检查CRC校验逻辑,确保其正确性。 4. 确保您的内存访问是按照硬件要求对齐的。 5. 仔细检查代码,查找可能的逻辑错误或bug。 6. 如果可能,尝试使用其他内存区域或方法来存储数据。 7. 查阅相关文档和社区,了解其他用户是否遇到了类似的问题,以及他们是如何解决的。 |
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