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1.问:CS125X 上电复位如何初始化? 答:上电瞬间,由于电池接触问题,造成电源上下波动,引起CS125X 反复复位,引起 CS125X 工作 不正常。所以等电压稳定后,做如下操作: 1、先复位 CS125X 通讯口,CS 脚拉低,SDA 脚拉高,SCL 脚拉低。 2、发送复位指令 96H 到 EAH 寄存器,延时 5ms。 3、读取寄存器 0AH 中的值,判断 0AH 寄存器中的第 6 位芯片上电复位标志是否为 1,否则继续 1.2 条。一直到芯片上电复位标志位为 1。 4、超时机制(如果连续 5 次芯片上电复位标志位都不为 1,直接跳到 1.5) 5、发送数据 5AH 到寄存器 5AH 中。 6、发送数据 FFH 到寄存器 12H 中。 7、发送数据 FFH 到寄存器 13H 中。 8、发送数据 BFH 到寄存器 10H 中。 2.问:CS125X 如何计算人体阻抗?** 答: 1、读取稳定的内短模式 ADC,保存到寄存器 AD0; 2、读取稳定的校准电阻 R0 ADC,保存到寄存器 ADr0; 3、读取稳定的校准电阻 R1 ADC,保存到寄存器 ADr1; 4、读取稳定的人体电阻 ADC,保存到寄存器 ADrx; 5、计算人体阻抗 ( R1 – R0 ) * ( ADrx – AD0 ) R = ---------------------------------------- ; K 为常数(可正可负),见问题 19 ADr1 – ADr0 - K 3.问:CS1257,CS1258 称重量模式下,寄存器如何配置? 答:寄存器默认推荐值如下: SYS 寄存器-----00011110B ADC0 寄存器----00000000B ADC1 寄存器----01011101B ADC2 寄存器----00000000B ADC3 寄存器----00000000B ADC4 寄存器----01000010B ADC5 寄存器----00000000B BIM0 寄存器 ----00000000B BIM1 寄存器 ----00000000B 具体含义间应用笔记或用户手册 4.问:CS125X 如何进入低功耗? ** 答: CS 脚拉低, SCL 脚拉高,延时 200uS,CS 脚拉高,芯片进入低功耗模式。 5.问:CS125X 低功耗后,主控 IO 口设置什么状态?** 答: CS,SDA,SCL 脚输出为高。 6.问:CS125X 芯片测试电阻时,读出来 AD 为 0,如何解决? 答: 测试人体阻抗时,按如下步骤: 1、先切换到内短模式,测试内短。 2、再切换到人体测试模式,测试人体。 7.问:CS125X 测试人体阻抗时,交流 50KHz 信号未出来,如何解决? 答:检查步骤如下: 1、检查 SYS 寄存器是否配置为 BIM 测量模式 2、寄存器 10H 中,是否有写入数据 BFH 3、PCB 上的总电源 LDO 输出电容,需要改为 47uF 8.问: CS125X 芯片测试纯电阻,一致性差异有多大? 答:一致性大概1%。PCB 上的 2 个参考电阻,使用 1%精度。 9.问: CS125X 第一次上电,测试阻抗偏差大,如何解决? 答:建议连续测试2 次,第一次数据不使用。 10.问:切换ADC 通道后,需要丢弃多少笔 AD 数值才稳定? 答: 一般建议丢掉4 笔 AD 数。 11.问:如何选择 VS 输出的电压值? 答:测试人体阻抗BIM 模式下,建议 VS 选择 2.8V。 12.问:电路设计及 PCB Layout 中,可采用哪些措施以加强芯片抗 ESD 能力? 答: 在电极片的引脚上,串联300ohm 的电阻,或者并联 ESD 保护元器件。 13.问:电路设计及 PCB Layout 中,可采用哪些措施以加强芯片抗干扰能力? 答:在AIN0 和 AIN1 之间并联 10nF 和 1nF 电容,可以提高 EMC 干扰。
答: 1、 配置 isin0 电流输出,isin1 电流输入,vsen0 – vsen1 + 测得电阻 计为 r01 如果 r01<200 或者 r01>1500 报错,否则 step2 2、配置 isin1 电流输出,isin0 电流输入,vsen1 – vsen0 + 连续测得 3 次电阻 计为 r10_1 、r10_2、 r10_3,三个阻值取中间阻值的当作有效值,假设是 r10_2, 如果r10_2 <200 --- > 报错 r10_2>1500 --- > 报错,否则 step3 3、如果 r01 和 r10_2 的差值的绝对值大于 500--> 报错,否则,step4 4、本次有效电阻 R1=(r01+ r10_2)/2 ; 15.问:BIM 测脂时 SYS 寄存器操作注意事项 答:当配置SYS 寄存器时, LDO 的使能要先于 BIM 使能 50ms。 包括 1)初次上电先使能 LDO、 ADC 再延时 50ms 后使能 BIM;2)powerdown 之前要关掉 LDO、ADC、BIM,powerdown 唤醒之后先使能 LDO、ADC 再延时 50ms 使能 BIM。 16.问:测内短、测参考电阻、测人体每个具体的步骤是怎样的? 答:操作遵循Step1.写 BIM0 (主要选择 BIM 测量通道,测内短、参考 0、参考 1 时不用配置) Step2.写 BIM1 (主要选择测量频率、测量模式) Step3.使能 BIM (SYS 寄存器写 0xCF,enable BIM 模块), Step4.读 AD 值 ,Step 5 n 笔 AD 读完后,关闭 BIM (SYS 寄存器写 0xCE,disable BIM 模块) 按照 Step1~ Step5 的顺序,主要的目的是在用完 BIM 模块后要关闭,下一次使用的时候再打开。 17.问:对于由于 M97 IO 紧张采用 CS125x 的 SDA 口和 flash 的 DO 口共用 IO 是怎么处理的? 答:操作cs125x 时把 flash 的 CS 拉高,失能 flash,就可以操作 cs125x 操作 flash 时, 把 cs125x 进入低功耗模式(调用 PowerDownCS125x),就可以操作 flash 注:不要共用CLK 口,可以把 CLK 速率适当加快提高速度。 18.问 八电极的线材电极片有什么要求? 电极片设计参考《体脂秤电极设计规范》仅供参考 19.问:K 值校准是什么意思? 答:由于工艺的差异,芯片参考电阻0 和参考电阻 1 连线的斜率需要校准,这样一致性会更好也更 准确。 思路:在外部外接已知的固定电阻,根据计算电阻的公式(见问题 2)反推出公式分母上的 k 是 多少,并保存在 flash 中,下次测量外部未知电阻时从 flash 读出代入公式计算未知电 校准方法:Step1:CS125x 电流电压端子外接电阻(误差<=1%)例如 500 欧,计为 R. Step2:使系统进入 cs125x 校准模式(类似人体秤的重量标定模式,开发人员实现), Step3:测量内短 AD 码、参考电阻 0 AD 码、参考电阻 1 AD 码、外接电阻 AD 码分别计为 AD0 、 ADr0、ADr1、ADrx;参考电阻 0、参考电阻 1 的电阻阻值分别计为 R0、R1,得到以上数据. Step4:计算校准因子 k=ADr1-ADr0-(ADrx-AD0)*(R1-R0)/R .( k 可正可负) Step5:把 k 值保存入 flash(要求掉电不丢失) Step6:下次计算外部未知电阻时使用保存的 k 值带入计算. 20.问: 芯海的人体成分算法怎么使用? 答:目前芯海的人体成分算法有三种使用方式 1、秤端 2、APP 端 3、服务器端 4、CSM37F58 端 |
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使用CS1232 采集一个小信号,信号有可能是正,也可能是负 ,是不知道怎么回事情?
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请问有关于CS32A010系列的ADC模块的单端采样例程吗;
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