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首样免费扫描电镜SEM-EDS测试分析【博仕检测】

2024-3-1 18:59:58 7187 扫描电镜检测芯片失效分析

0 【设备应用】 SEM是扫描电子显微镜，用二次电子成像的原理来观察某种物质的微观形貌。EDS是能谱仪，是每种元素对应的电子能不同，来鉴别元素，通常与SEM结合使用，也就是说在SEM上安装EDS附件，在观看形貌时，选择一定区域进行EDS测试，就能了解该区域的元素组成。 SEM/EDS能解决什么问题？我们可以从以下4方面进行分类：微观形貌观察及尺寸测量，如断口显微形貌观察，电子产品内部结构观察，表⾯形貌观察，镀层厚度测量，锡须长度测量等；材料微观结构观察，如金属材料的晶粒及晶界分析，铸铁材料石墨形态分析、钢铁材料的金相观察，纳米材料分析等；区成分分析，利用电子束与物质作用时产生的特征X射线，表征材料元素方面的信息，可定性、半定量Be-U的元素；定位测试点，如在失效分析中可以用来定位失效点，在异物分析中可以用来定位异物点。博仕检测测试案例： 1.观察材料的表面形貌 2.PCB覆铜板截面观察测量元素分析-点扫EDS Point scan 元素分析-点扫EDS Line scan 元素分析-面扫EDS Mapping 0 本主题由从前有座_山于 2024-3-3 13:16 审核通过
2024-3-1 18:59:58　　评论淘帖0 举报相关推荐 • 扫描电镜应用之SEM-EDS金属材料研究及失效分析 4781 • 什么是扫描电镜（SEM）？ 465 • 扫描电镜(SEM)LED材料分析 2500 • SEM扫描电镜工作原理，SEM扫描电镜威廉希尔官方网站应用 3572 • 影响扫描电镜（SEM）的几大要素？ 3715 • 场发射扫描电镜（FESEM）与常规扫描电镜（SEM）：威廉希尔官方网站对比及优势分析 463 • 扫描电镜SEM的原理、性能及应用 10574 • 扫描电镜可以分析什么？ 3513 • LED芯片观察(扫描电镜)SEM失效分析 2120 • SEM扫描电镜中钨灯丝与场发射的区别 1198