完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦, 立即完善>
使用CapSense CSD组件,在温度上升和下降的循环实验中,有spike噪声出现。
如图中的尖峰脉冲部分,这样会偶发raw快速上升,raw和baseline的差值大于门限而误触发。 现在想了解一下这种干扰可能来自于哪里?如果优化参数抗干扰? |
|
相关推荐
1个回答
|
|
有几个可能的原因导致CapSense CSD组件在温度循环实验中出现spike噪声:
1. 温度变化引起电容或电阻的变化:在温度变化过程中,电容和电阻的值可能会变化,从而影响CapSense CSD感应的准确性。这可能导致干扰信号进入系统并引起噪声。 2. 环境电磁干扰:CapSense CSD系统可能受到来自环境的电磁干扰,如电源线噪声、电源开关噪声、附近设备的电磁辐射等。这些干扰信号可能会被误认为是触摸输入,导致误触发。 3. 接地问题:如果CapSense电极或接地线路有接地问题,例如接地不良、地线回路过长等,会导致干扰信号进入系统。 针对以上可能的原因,可以考虑以下优化措施来提高抗干扰性能: 1. 优化电路布局:将电源、地线和CapSense电极彼此分离,并确保电源和地线的良好接地和低噪声设计。 2. 阻尼电路:添加合适的阻尼电路以减少噪声和尖峰脉冲的影响。这可以通过在电极和地之间添加合适的电阻和电容来实现。 3. 滤波器:添加适当的滤波器来过滤掉高频干扰信号。这可以使用磁珠、电容、电感器等元件实现。 4. 信号处理算法:优化CapSense CSD组件的信号处理算法,以提高抗干扰能力和减少误触发的可能性。 总之,在优化CapSense CSD组件的抗干扰性能时,应该综合考虑电路设计、环境条件和信号处理算法等因素,并根据具体情况进行调整和改进。 |
|
|
|
你正在撰写答案
如果你是对答案或其他答案精选点评或询问,请使用“评论”功能。
《DNESP32S3使用指南-IDF版_V1.6》第三十章 DHT11数字温湿度传感器
122 浏览 0 评论
565 浏览 0 评论
【敏矽微ME32G070开发板免费体验】之原厂2812测试例程解析
772 浏览 0 评论
948 浏览 2 评论
《DNESP32S3使用指南-IDF版_V1.6》第二十六章 INFRARED_RECEPTION实验
658 浏览 0 评论
【youyeetoo X1 windows 开发板体验】少儿AI智能STEAM积木平台
12041 浏览 31 评论
小黑屋| 手机版| Archiver| 电子发烧友 ( 湘ICP备2023018690号 )
GMT+8, 2024-12-26 16:47 , Processed in 0.785715 second(s), Total 75, Slave 58 queries .
Powered by 电子发烧友网
© 2015 bbs.elecfans.com
关注我们的微信
下载发烧友APP
电子发烧友观察
版权所有 © 湖南华秋数字科技有限公司
电子发烧友 (电路图) 湘公网安备 43011202000918 号 电信与信息服务业务经营许可证:合字B2-20210191 工商网监 湘ICP备2023018690号