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您好。我在使用AD8529设计一个同向放大电路,其后将驱动电容性负载,因此希望获得AD8529的开环增益模型来预计系统瞬态响应性能并添加适当的补偿。测试方法参照《基于运算放大器和模拟集成电路的电路设计》第3版315页图8.5环路增益的测试(取消掉反向输入端寄生电容和负载电容,此时beta=0.5且无零极点),认为T/beta即为开环增益,测试电路和测试结果详见附件文档。具体问题如下: 1、使用+5V和-5V供电时,可获得与数据手册基本一致的开环增益曲线;使用+12V和0V供电时(实际工况),获得的曲线与数据手册完全不符。这该如何理解?开环增益模型是否会随供电变化?±5V供电时获得的模型是否可看做是器件的实际模型并按其进行补偿设计? 2、上述测试方法是否正确?认为Vout/(Vp-Vn)就是器件的开环增益,并对其测试的方法是否可行?ADI是否有推荐的运放开环增益测试电路? 期待您的回复。 |
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我想要用半桥电路测试IGBT,但是IGBT总是导不通,求大家帮忙看看是为什么
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