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串电阻,看电阻上的电压。论文里是这么做的。但感觉也只能定性的看,和放在ADC里面还是有差别的。
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在SAR ADC中,比较器的kick-back跟输入信号有较强的相关性,因为比较器输入电容是可变电容,其容值随着输入电压变化而变化。kick-back虽然叫kick-back noise, 实际上谐波的影响更大一些。此外,也跟采样方式有关系,比如上级板采样,比较器的输入信号是直接输入信号,而最后一位比较后,其输入信号是共模,这个过程中,电容变化比较大,kick-back的量不能很好的抵消;而下级板采样中,比较器输入一开始就是共模信号,比较到最后也是共模信号,所以电容变化不大。所以评估SAR ADC中kick-back的影响,不能在单点上测量。最完整的方式肯定是跑数据出fft,看对谐波的影响程度。
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