请问怎样对OLED显示器进行测试？

　　显示器测试
　　对一个以像素阵列组成的显示器进行测试，需要自动对信号进行路由切换，以便将电源切换至被测像素上。一种GPIB控制的开关系统，例如7002，可以对其内部的二维继电器开关扫描卡进行控制。图1中的结构图说明了如何把两个多路复用（multiplex）扫描卡连接成至一个被测显示器，以此构成一个40×40的阵列。在这个例子中，只使用了一个2400型源表，此外还使用了7015-C型1×40双刀固态继电器多路复用卡。7015-C属于固态继电器开关，其切换时间小于500微妙，以保证最大的测试吞吐率。当使用2400型源表时，每个扫描卡的偏置电流远小于1nA，以使对漏电流的测量精度达到10-8-10-9A。仅采用一个源表的测试系统中，扫描卡上所有与行和列相连的继电器就只需是单刀，将“高”端或“低”端连至显示器行和列即可。
　　
　　图1. 使用两个7015-C扫描卡、一个40×40样品显示器和一个2400源表的连线图。
　　
　　图2.使用两个7015-C型扫描卡和一个40×80样品显示器的连线图，a）采用两个2400型源表，b） 采用四个2400型源表。
　　用两个或四个源表而不用一个源表来搭建测试系统，就保证了更高的吞吐率和更有效的开关资源利用。图2a和2b表示了两个和四个2400型源表通过7015-C的1×40多路复用卡与显示器相连的情况。用了两个或四个源表之后，就要把继电器的“高”和“低”端全都连接到显示器的列上。这一结构允许在每个测试周期内同时对两个或四个像素进行测试。每个7015-C卡包含四组“A”、“B”、“C”、“D”；或者包含四个独立的、双刀1×10多路复用卡。当使用两个源表时，四个组的“高”输入端被连在一起，并与1号源表相连；而四个组的“低”输入端也被连在一起，再与2号源表相连。对于使用四个源表的系统，A组和B组的“高”输入端需要连在一起，A组和B组的“低”输入端也要连在一起。然后把两个1×20分线器与1号和2号源表相连。对于C组、D组以及3号、4号源表，采用相同的连接方式。
　　一个应用所需要的扫描卡的数量取决于显示器的规模，也就是像素行与像素列的数量。采用7015-C型卡之后，每80列需要一块扫描卡，以及每40行需要一块扫描卡。按规定，7002型开关主板可以容纳10个卡；如果需要10个以上的扫描卡，就可以对系统多加一块7002型开关板。