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如何正确测量电容容量和耗散因子？
为什么需要根据电容容量范围在不同的测试频率 / 电压下测量电容容量？ 电容容量的Cp和Cs有什么区别？ 如何准确测量品质因子（Q）？ 什么是电容允受的纹波电流？ 
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5个回答
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问：如何正确测量电容容量和耗散因子？
答：正确测量的关键在于电表设置。详见表 1。 电压设置对于高电容容量的电容而言至关重要。对于某些电容表，如果施加到测试元件的电压不够，电容容量读数就会很低。 频率设置也很重要。由于电容容量随频率的变化而变化，因此行业标准将测试频率指定为 1MHz、1kHz 或 120Hz（请参见表 1）。 辨别 EIA II 类电容的老化现象同样重要。对于 II 类材料，电容容量会随时间而减小。因此，一项广为接受的行业惯例规定，在最后一次加热（TOLH）后 1000 小时内，电容容量应处于容差范围内。 |
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问：为什么需要根据电容容量范围在不同的测试频率 / 电压下测量电容容量？
答：仪表的频率设置取决于元件的寄生特性。为了更准确地读取元件数值，测量频率应偏离元件的自谐振频率（SRF）。行业用户会根据电容值在不同的频率点设置标准（请参见表 1）。超过 10uF 的电容值被视为属于钽电容的范围。因此，随着陶瓷电容容量范围开始扩大并覆盖了钽电容的范围，业界将用于钽电容测量的频率标准应用于陶瓷电容中。 施加的电压还取决于电容的电容容量。通常，针对 10uF 及以下电容值施加的电压为 1.0±0.2 Vrms。但当电容值超过 10uF 时，施加的电压为 0.5±0.1 Vrms。高电容容量电容的阻抗非常低，因此要提供充足的电流以进行测量，电源需要的电流还要大于 1.0±0.2 Vrms 时的电流。通过降低施加的电压，电源就能提供充足的电流以准确测量高电容容量的电容。 |
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问：电容容量的 Cp 和 Cs 有什么区别？
答：阻抗分析仪可以采用并联（称为 Cp）或串联（称为 Cs）的方式来测量电容容量。电路模型将取决于电容的电容值（参见图 1）。 当 C 较小且阻抗较高时，C 和 Rp 之间的并联阻抗将明显高于 Rs。因此，用于测量电容容量的仪表设置应为 Cp。当 C 较大而阻抗较小时，C 和 Rp 的并联阻抗就不是很明显了。因此，应将 Cs 用作电表设置来测量电容容量。选择阻抗设置的一个经验法则是，当电容阻抗值大于 10kΩ时，使用 Cp；当电容阻抗值小于 10Ω时，使用 Cs。 |
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问：如何准确测量品质因子（Q）？
答：品质因子用于衡量电容在理论上起到纯电容作用的程度。它是耗散因子（DF）的倒数。通常，当电容容量≦330pF、DF》330pF 时才会报告 Q 值。 借助使用（与特定电容容量范围相对应的）精确电感线圈的 Q 表可以获得准确的 Q 值。通常需要多个线圈才能在 0.5～330pF 的范围内进行充分测量。对于大于 330pF 的电容，可以取损耗因子的倒数来计算品质因子（请参见公式 1）。 |
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问：什么是电容允受的纹波电流？
答：为响应电容中出现的电压波动，充电电流或放电电流会充入或离开电容。此时进入或离开电容的电流称为纹波电流。该电流通常以有效值表示，因为从原理上说它并不是直流电。电容会随着纹波电流产生热量，因此必须设置一个上限，而该上限的值就是所谓允受的纹波电流。 |
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