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电路上的开关检测电路，外部DI1开路的时候，光耦不发光，DIB1输入mcu高电平；外部DI1合闸接地GND-E的时候，光耦发光，DIB1低电平。在平常应用没问题，但是做抗扰度试验就不行了，DI1和GND-E加差模2.5kV，100KHz的阻尼振荡干扰信号，整个设备就死机了，请问哪里改进，增加抗扰度。 
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输出加施密特触发器
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首先感觉R124=22K有点太大了，流过光耦的电流大概只有1ma；你的系统是经过光耦隔离的，所以说外部的扰动电压按道理来说不可能让这个设备死机，原因只有一个，那就是你的电源收到了干扰死机了，所以造成整个系统死机，解决这种实验不过的办法一般就是增加TVS管
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首先需要定位干扰源在哪里
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OK，加TVS管，然后再加个电源模块，变成双电源，试验过了
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加TVS管是不错的解决方法
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DIB1开关频率不快的话，C89容值加大也有一定效果。
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