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我正在寻找在测试夹具的DUT端口实现微带线的方法,假设我们已经具有良好的同轴校准。
例如,可以使用微带TRL校准的子集,其中来自先前同轴校准的信息用于简化或增强微带校准,从而:(a)可以放宽对微带标准的质量要求,或者 (b)标准数目减少了多少? 我还想得到夹具每半个的完整2端口S参数。 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 I am looking for ways to achieve a microstrip cal at the DUT ports of a test fixture, assuming that we already have a good coaxial cal. For example, can one do a subset of a microstrip TRL cal in which the information from the previous coaxial cal is used to simplify or enhance the microstrip cal, so that : (a) the quality requirements on the microstrip standards can be relaxed, or (b) the number of standards reduced? I would also like to derive the full 2-port S-parameters of each half of the fixture. |
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2个回答
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这些过程并不那么简单,并且编程非常复杂,可以以一种能够提供准确结果的方式执行您想要的操作......幸运的是,我们有一个软件应用程序,我们已经为您完成了所有工作。
物理层测试系统具有自动夹具移除功能,可以满足您的要求。 您可以在此处找到更多信息:http://www.home.agilent.com/en/pd-1000004594%3Aepsg%3Apro-pn-N1930B/physical-layer-test-system-plts-2012-software?cc=HK& ; lc = eng和这里:http://na.tm.agilent.com/plts/help/WebHelp/VNACalAndMeas/Auto_Fixture_Removal.htm 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 the processes are not so simple, and the programming pretty complex to do what you want in a way that gives accurate results...luckily we have a software application where we have done all the work for you. The Physical Layer Test System has an Automatic Fixture Removal feature that does everthing you request. You can find more information here: http://www.home.agilent.com/en/pd-1000004594%3Aepsg%3Apro-pn-N1930B/physical-layer-test-system-plts-2012-software?cc=HK&lc=eng and here: http://na.tm.agilent.com/plts/help/WebHelp/VNACalAndMeas/Auto_Fixture_Removal.htm |
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脑洞大赛9 发表于 2019-2-26 11:06 谢谢你的链接Dr_Joel。 我将看看这些解决方案。 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 Thank you for the links, Dr_Joel. I will take a look at those solutions. |
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只有小组成员才能发言,加入小组>>
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