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大家好： 我在调试AD9361射频收发回环测试，测试情况如下： 1. 使用单块评估板，将Tx和Rx通过射频线缆回环； 2. 测试脚本配置为FDD方式，收发设置为相同频点； 3. 基带信号源使用内部的BIST模块。 测试中，使能ENSM进入FDD状态，切换BIST灌入Tx Chain (etc. SPIWrite 03F453)，FPGA内部抓取接收信号，可以看到IQ正弦波，但是质量很差，类似噪声。后面我调节Tx Power 使得信号质量有所改善，但是还是存在两路信号质量不理想， 测试图片如下： 图1. 正常的基带单音信号(BIST直接灌入数字接口) 图2. 较低频率单音IQ两路（BIST灌入Tx Chain 射频回环到Rx Chain） 图3. 较高频率单音IQ两路（BIST灌入Tx Chain 射频回环到Rx Chain） 接收增益这块，我使用了AGC的 Fast Attack模式。 还请大家帮忙看看 ，谢谢。
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作这个测试的目的是什么呢？它没有区分失真的来源。如果用它来验证时序，这几个图都可以了。
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你好，
这个测试是直接将射频发射信号回环到接收端口，我的手头目前只有一块板子，并且子板上的Tx Monitor端口没有被引出来。简单咨询过FAE，说可以配置成FDD模式下，发射信号功率不要太大就是。 理想的情况是，将基带的调制信号经过Tx Chain 回到Rx Chain 来看接收IQ的EVM质量。 你这里说的验证时序是什么？ 是数字接口的时序吗？ 这部分我已经验证过 是ok的。 |
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你好！我也做了回环测试，自己编写的发射机，编写的时序通过ad9361发送出去，但是接收时发现接收到的第一帧数据波形严重失真，如果第二帧小于1ms，接收到的正确。大于1ms波形严重失真。请问你遇到了相同的问题没？
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