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FIB聚焦离子束电路修改服务

2018-8-17 11:03:08 2761

0 FIB聚焦离子束电路修改服务芯片在开发初期往往都存在着一些缺陷，FIB(Focused Ion Beam, 聚焦离子束) 电路修改服务，除了可提供了芯片设计者直接且快速修改芯片电路，同时亦可在复杂线路中做信号撷取点，让设计者可经由探针 (Probe station) 或 E-beam 直接观测芯片内部信号，如此可降低重新投片 (光罩) 所耗费的成本，缩短原型 (Prototype) 验证时间。关于宜特: iST宜特始创于1994年的***，主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等威廉希尔官方网站服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。 0
2018-8-17 11:03:08　　评论淘帖0 举报相关推荐 • Dual Beam FIB(双束聚焦离子束) 3707 • 双束电浆离子束Plasma FIB与双束聚焦离子束Dual Beam FIB的区别？ 3473 • 聚焦离子束（FIB）威廉希尔官方网站介绍 15779 • 聚焦离子束显微镜(FIB-SEM) 4378 • 聚焦离子束应用介绍 2554 • 聚焦离子束(FIB)威廉希尔官方网站的特点、优势以及应用 276 • 聚焦离子束一电子束(FIB-SEM)双束系统原理 274 • 双束电浆离子束 (Plasma FIB) 7509 • 聚焦离子束系统的结构、工作原理及聚焦离子束双束系统 108 • 聚焦离子束FIBSEM切片测试【博仕检测】 1120