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了解和进行USB 2.0 物理层测试

2008-11-26 10:02:51 4152

0 了解和进行USB 2.0 物理层测试引言涉及USB 2.0 设备设计、检测和验证的工程师每天都面临着加快新产品开发周期的压力。通过泰克完善的系列工具，设计人员可以迅速准确地执行USB 实现者论坛组织(USB-IF)推荐的所有一致性测试。通用串行总线 (USB 2.0)是一种连接规范，它面向的是计算机外部连接的外设，以消除打开计算机机箱、为某些设备安装所需板卡的麻烦。对用户来说，USB标准设备意味着易用性、扩展能力和速度。 USB 2.0威廉希尔官方网站已经被当前市场广泛采用，其数据速率提高了40 倍。随着吞吐量的提高，现在出现了完整的一系列新型外设，如全运动视频及钱包大小的辅助硬盘。然而，由于数据速率的急剧提高，全新的测试测量挑战也随之出现。 USB 2.0 规范引入了新的一致性测试要求。USB 2.0 设备设计人员必须正确检定设计，验证是否满足行业标准，然后设备制造商才能在包装上贴上“通过认证”的 USB-IF 标志。相应的工具集对USB-IF 一致性测试的性能至关重要，如低速、全速和高速设备和集线器的眼图和参数测试。本应用指南将重点集中在了解和进行USB 2.0物理层测量和电气特性一致性测试(电气特性和高速测试)，并讨论每种测试要求的仪器。 tNZHN8R9.pdf (954.19 KB, 下载次数: 15 ) 0
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